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The Capacity of Robust Private Information Retrieval With Colluding Databases
The Capacity of Robust Private Information Retrieval With Colluding Databases
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The Capacity of Robust Private Information Retrieval With Colluding Databases

Sun, Hua ; Jafar, Syed Ali

IEEE transactions on information theory, 2018-04, Vol.64 (4), p.2361-2370 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Learning to Detect a Salient Object
Learning to Detect a Salient Object
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Learning to Detect a Salient Object

Liu, Tie ; Yuan, Zejian ; Sun, Jian ; Wang, Jingdong ; Zheng, Nanning ; Tang, Xiaoou ; Shum, Heung-Yeung

IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence, 2011-02, Vol.33 (2), p.353-367 [Periódico revisado por pares]

Los Alamitos, CA: IEEE

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CID2013: A Database for Evaluating No-Reference Image Quality Assessment Algorithms
CID2013: A Database for Evaluating No-Reference Image Quality Assessment Algorithms
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CID2013: A Database for Evaluating No-Reference Image Quality Assessment Algorithms

Virtanen, Toni ; Nuutinen, Mikko ; Vaahteranoksa, Mikko ; Oittinen, Pirkko ; Hakkinen, Jukka

IEEE transactions on image processing, 2015-01, Vol.24 (1), p.390-402 [Periódico revisado por pares]

United States: IEEE

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4
Online Discovery of Gathering Patterns over Trajectories
Online Discovery of Gathering Patterns over Trajectories
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Online Discovery of Gathering Patterns over Trajectories

Kai Zheng ; Yu Zheng ; Yuan, Nicholas J. ; Shuo Shang ; Xiaofang Zhou

IEEE transactions on knowledge and data engineering, 2014-08, Vol.26 (8), p.1974-1988 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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5
Supervised Learning of Semantic Classes for Image Annotation and Retrieval
Supervised Learning of Semantic Classes for Image Annotation and Retrieval
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Supervised Learning of Semantic Classes for Image Annotation and Retrieval

Carneiro, G. ; Chan, A.B. ; Moreno, P.J. ; Vasconcelos, N.

IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence, 2007-03, Vol.29 (3), p.394-410 [Periódico revisado por pares]

Los Alamitos, CA: IEEE

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6
Local Derivative Pattern Versus Local Binary Pattern: Face Recognition With High-Order Local Pattern Descriptor
Local Derivative Pattern Versus Local Binary Pattern: Face Recognition With High-Order Local Pattern Descriptor
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Local Derivative Pattern Versus Local Binary Pattern: Face Recognition With High-Order Local Pattern Descriptor

Zhang, Baochang ; Gao, Yongsheng ; Zhao, Sanqiang ; Liu, Jianzhuang

IEEE transactions on image processing, 2010-02, Vol.19 (2), p.533-544 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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80 Million Tiny Images: A Large Data Set for Nonparametric Object and Scene Recognition
80 Million Tiny Images: A Large Data Set for Nonparametric Object and Scene Recognition
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80 Million Tiny Images: A Large Data Set for Nonparametric Object and Scene Recognition

Torralba, A. ; Fergus, R. ; Freeman, W.T.

IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence, 2008-11, Vol.30 (11), p.1958-1970 [Periódico revisado por pares]

United States: IEEE

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Study of Subjective and Objective Quality Assessment of Video
Study of Subjective and Objective Quality Assessment of Video
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Study of Subjective and Objective Quality Assessment of Video

Seshadrinathan, Kalpana ; Soundararajan, Rajiv ; Bovik, Alan Conrad ; Cormack, Lawrence K

IEEE transactions on image processing, 2010-06, Vol.19 (6), p.1427-1441 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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9
A Comprehensive Database for Benchmarking Imaging Systems
A Comprehensive Database for Benchmarking Imaging Systems
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A Comprehensive Database for Benchmarking Imaging Systems

Panetta, Karen ; Wan, Qianwen ; Agaian, Sos ; Rajeev, Srijith ; Kamath, Shreyas ; Rajendran, Rahul ; Rao, Shishir Paramathma ; Kaszowska, Aleksandra ; Taylor, Holly A. ; Samani, Arash ; Yuan, Xin

IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence, 2020-03, Vol.42 (3), p.509-520 [Periódico revisado por pares]

United States: IEEE

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10
The UBIRIS.v2: A Database of Visible Wavelength Iris Images Captured On-the-Move and At-a-Distance
The UBIRIS.v2: A Database of Visible Wavelength Iris Images Captured On-the-Move and At-a-Distance
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The UBIRIS.v2: A Database of Visible Wavelength Iris Images Captured On-the-Move and At-a-Distance

Proenca, Hugo ; Filipe, Silvio ; Santos, Ricardo ; Oliveira, Joao ; Alexandre, Luis A

IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence, 2010-08, Vol.32 (8), p.1529-1535 [Periódico revisado por pares]

Los Alamitos, CA: IEEE

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