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VLSI test principles and architectures design for testability
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VLSI test principles and architectures design for testability

Laung-Terng Wang; Cheng-Wen Wu EE Ph. D.; Xiaoqing Wen

Amsterdam Elsevier Morgan Kaufmann Boston c2006

Localização: EPELM - Esc. Politécnica-Bib Eng Elet., Mec. e Naval    (621.3.049.771.15 V8492 )(Acessar)

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VLSI Test Principles and Architectures
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VLSI Test Principles and Architectures

Laung-Terng Wu, Cheng-Wen Wen,Xiaoqing Wang Laung-Terng Wang; Xiaoqing Wen; Cheng-Wen Wu Cheng-Wen Wu Xiaoqing Wen; Khader S Abdel-Hafez; Soumendu Bhattacharya; Abhijit Chatterjee; Xinghao Chen; Kwang-Ting (Tim) Cheng; William Eklow; Michael S Hsiao; Wen-Ben Jone; Rohit Kapur; Brion Keller; Kuen-Jong Lee; James C. -M Li; Mike Peng Li

Burlington Morgan Kaufmann 2006

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Deste Autor:

  1. Wen, X
  2. Wang, L
  3. Wu, C
  4. Keller, B
  5. Xiaoqing Wen

Neste Assunto:

  1. Circuitos Integrados Vlsi
  2. Integrated Circuits

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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