Atomic force microscopy investigation of ultra-thin polyaniline films
L H C Mattoso A Riul Junior; P S PHerrmann; L A Colnago; N A Parizotto; V Baranauskas; Osvaldo Novais de Oliveira Junior; International Conference on Organized Molecular Films (7. 1995 Numana)
International Conference on Organized Molecular Films, 7 1995
Numana 1995
Localização:
IFSC - Inst. Física de São Carlos
(PROD003651 ) e outros locais(Acessar)
Adhesion forces for mica and silicon oxide surfaces studied by atomic force spectroscopy
F. L. Leite Ervino Carlos Ziemath; Osvaldo Novais de Oliveira Junior; P. S. PHerrmann; Latin American Symposium on Scanning Probe Microscopy - LASPM (3. 2005 Ouro Preto)
Microscopy and Microanalysis Cambridge University Press v. 11, supl. S03, p. 130-133, Dec. 2005
New York Cambridge University Press 2005
Localização:
IFSC - Inst. Física de São Carlos
(PROD011943 ) e outros locais(Acessar)
Aplicação da técnica de AFM na caracterização de sensores poliméricos
F. L. Leite C. E Borato; P. S. PHerrmann; R Bernardes Filho; Osvaldo Novais de Oliveira Junior; L. H. C Mattoso; Simpósio em Ciência e Engenharia de Materiais - SICEM (6. 2003 São Carlos)
Resumos estendidos São Carlos : IFSC/EESC/IQSC-USP, 2003
São Carlos IFSC/EESC/IQSC-USP 2003
Localização:
IFSC - Inst. Física de São Carlos
(PROD009350 ) e outros locais(Acessar)
AFM studies of composite polyaniline Langmuir-Blodgett (LB) films
Antonio Riul Júnior Anantharaman Dhanabalan; Maria Aparecida Cotta; P S PHerrmann; Luiz Henrique Capparelli Mattoso; A G Macdiarmid; Osvaldo Novais de Oliveira Junior; International Conference on Science and Technology of Synthetic Metals (1998 Montpellier)
Book of Abstracts Montpellier, 1998
Montpellier 1998
Localização:
IFSC - Inst. Física de São Carlos
(PROD005593 ) e outros locais(Acessar)