TEM, XRD and AFM study of poly(o-ethoxyaniline) films new evidence for the formation of conducting islands
Fábio L. Leite William F Alves; Mirta Mir; Yvonne Primerano Mascarenhas; Paulo S. P Herrmann; Luiz H. C Mattoso; Osvaldo Novais de Oliveira Junior
Applied Physics A New York v. 93, n. 2, p. 537-542, Nov. 2008
New York 2008
Localização:
IFSC - Inst. Física de São Carlos
(PROD015200 )(Acessar)