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1
Spatial Statistics: Methodological Aspects and Applications
Spatial Statistics: Methodological Aspects and Applications
Spatial Statistics: Methodological Aspects and Applications
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Spatial Statistics: Methodological Aspects and Applications

P. Diggle, P. Fienberg, S. Bickel

Springer New York 2001

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2
Mathematical statistics
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Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Mathematical statistics

Peter John Bickel

San Francisco Holden-Day 1971-

Localização: IME - Inst. Matemática e Estatística    (QA277 B583m pt.1 e.2 )(Acessar)

3
Discretization and MCMC Convergence Assessment
Discretization and MCMC Convergence Assessment
Discretization and MCMC Convergence Assessment
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Discretization and MCMC Convergence Assessment

P. Diggle, P. Fienberg, S. Bickel P Diggle; S Fienberg

Springer New York 1998

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4
Robust Bayesian Analysis
Robust Bayesian Analysis
Robust Bayesian Analysis
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Robust Bayesian Analysis

P. Bickel P Diggle; S Fienberg; Fabrizio Ruggeri

Springer New York 2000

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5
Nonparametric Monte Carlo Tests and Their Applications
Nonparametric Monte Carlo Tests and Their Applications
Nonparametric Monte Carlo Tests and Their Applications
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Nonparametric Monte Carlo Tests and Their Applications

Lixing Zhu P Bickel; P Diggle; Li-Xing Zhu; S Fienberg

Dordrecht Springer New York 2005

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6
Applications of Computer Aided Time Series Modeling
Applications of Computer Aided Time Series Modeling
Applications of Computer Aided Time Series Modeling
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Applications of Computer Aided Time Series Modeling

P. Diggle, P. Fienberg, S. Bickel P Diggle; S Fienberg; Arthur M Havenner

Springer New York 1997

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7
Probability Towards 2000
Probability Towards 2000
Probability Towards 2000
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Probability Towards 2000

P. Diggle, P. Fienberg, S. Bickel P Diggle; S Fienberg; C. C Heyde

Springer New York 1998

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8
Measuring Risk in Complex Stochastic Systems
Measuring Risk in Complex Stochastic Systems
Measuring Risk in Complex Stochastic Systems
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Measuring Risk in Complex Stochastic Systems

P. Diggle, P. Fienberg, S. Bickel Wolfgang Härdle; Gerhard Stahl

Springer New York 2000

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9
Empirical Bayes and Likelihood Inference
Empirical Bayes and Likelihood Inference
Empirical Bayes and Likelihood Inference
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Empirical Bayes and Likelihood Inference

P. Diggle, P. Fienberg, S. Bickel N Reid

Springer New York 2001

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10
Efficient and adaptive estimation for semiparametric models
Efficient and adaptive estimation for semiparametric models
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Efficient and adaptive estimation for semiparametric models

Peter J Bickel

New York Springer 1998

Localização: EPECP - Esc. Politécnica-Bib Eng Civil e Prod    (519.226 Ef41 )(Acessar)

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Deste Autor:

  1. Bickel, P
  2. Diggle, P
  3. Fienberg, S
  4. Doksum, K
  5. Hodges, J

Neste Assunto:

  1. Science & Technology
  2. Life Sciences & Biomedicine
  3. Humans
  4. Female
  5. Male

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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