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Computer science. Science 2.0
Computer science. Science 2.0
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Computer science. Science 2.0

Shneiderman, Ben

Science (American Association for the Advancement of Science), 2008-03, Vol.319 (5868), p.1349-1350 [Periódico revisado por pares]

United States

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A Survey of Convolutional Neural Networks: Analysis, Applications, and Prospects
A Survey of Convolutional Neural Networks: Analysis, Applications, and Prospects
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A Survey of Convolutional Neural Networks: Analysis, Applications, and Prospects

Li, Zewen ; Liu, Fan ; Yang, Wenjie ; Peng, Shouheng ; Zhou, Jun

IEEE transaction on neural networks and learning systems, 2022-12, Vol.33 (12), p.6999-7019

United States: IEEE

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A Survey of the Usages of Deep Learning for Natural Language Processing
A Survey of the Usages of Deep Learning for Natural Language Processing
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A Survey of the Usages of Deep Learning for Natural Language Processing

Otter, Daniel W. ; Medina, Julian R. ; Kalita, Jugal K.

IEEE transaction on neural networks and learning systems, 2021-02, Vol.32 (2), p.604-624

United States: IEEE

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FactSheets: Increasing trust in AI services through supplier's declarations of conformity
FactSheets: Increasing trust in AI services through supplier's declarations of conformity
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FactSheets: Increasing trust in AI services through supplier's declarations of conformity

Arnold, M. ; Bellamy, R. K. E. ; Hind, M. ; Houde, S. ; Mehta, S. ; Mojsilovic, A. ; Nair, R. ; Ramamurthy, K. Natesan ; Olteanu, A. ; Piorkowski, D. ; Reimer, D. ; Richards, J. ; Tsay, J. ; Varshney, K. R.

IBM journal of research and development, 2019-07, Vol.63 (4/5), p.6-6:13 [Periódico revisado por pares]

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Viewing computer science through citation analysis: Salton and Bergmark Redux
Viewing computer science through citation analysis: Salton and Bergmark Redux
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Viewing computer science through citation analysis: Salton and Bergmark Redux

Devarakonda, Sitaram ; Korobskiy, Dmitriy ; Warnow, Tandy ; Chacko, George

Scientometrics, 2020-10, Vol.125 (1), p.271-287 [Periódico revisado por pares]

Cham: Springer International Publishing

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AI Fairness 360: An extensible toolkit for detecting and mitigating algorithmic bias
AI Fairness 360: An extensible toolkit for detecting and mitigating algorithmic bias
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AI Fairness 360: An extensible toolkit for detecting and mitigating algorithmic bias

Bellamy, R. K. E. ; Dey, K. ; Hind, M. ; Hoffman, S. C. ; Houde, S. ; Kannan, K. ; Lohia, P. ; Martino, J. ; Mehta, S. ; Mojsilovic, A. ; Nagar, S. ; Ramamurthy, K. Natesan ; Richards, J. ; Saha, D. ; Sattigeri, P. ; Singh, M. ; Varshney, K. R. ; Zhang, Y.

IBM journal of research and development, 2019-07, Vol.63 (4/5), p.4-4:15 [Periódico revisado por pares]

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Does double‐blind peer review reduce bias? Evidence from a top computer science conference
Does double‐blind peer review reduce bias? Evidence from a top computer science conference
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Does double‐blind peer review reduce bias? Evidence from a top computer science conference

Sun, Mengyi ; Barry Danfa, Jainabou ; Teplitskiy, Misha

Journal of the American Society for Information Science and Technology, 2022-06, Vol.73 (6), p.811-819 [Periódico revisado por pares]

Hoboken, USA: John Wiley & Sons, Inc

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Using Scopus’s CiteScore for assessing the quality of computer science conferences
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Using Scopus’s CiteScore for assessing the quality of computer science conferences

Meho, Lokman I.

Journal of informetrics, 2019-02, Vol.13 (1), p.419-433 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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9
Big data and IoT-based applications in smart environments: A systematic review
Big data and IoT-based applications in smart environments: A systematic review
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Big data and IoT-based applications in smart environments: A systematic review

Hajjaji, Yosra ; Boulila, Wadii ; Farah, Imed Riadh ; Romdhani, Imed ; Hussain, Amir

Computer science review, 2021-02, Vol.39, p.100318, Article 100318

Elsevier Inc

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10
Robust and Communication-Efficient Federated Learning From Non-i.i.d. Data
Robust and Communication-Efficient Federated Learning From Non-i.i.d. Data
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Robust and Communication-Efficient Federated Learning From Non-i.i.d. Data

Sattler, Felix ; Wiedemann, Simon ; Muller, Klaus-Robert ; Samek, Wojciech

IEEE transaction on neural networks and learning systems, 2020-09, Vol.31 (9), p.3400-3413

IEEE

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  20. Árabe  (157)
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Nome da Publicação 

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  2. Plos One  (70.638)
  3. Science  (46.797)
  4. Scientific Reports  (38.031)
  5. Sensors  (35.334)
  6. Nature  (31.046)
  7. Analytical Chemistry  (29.893)
  8. Remote Sensing  (28.378)
  9. Applied Sciences  (26.732)
  10. International Journal Of Advanced Manufacturing Technology  (23.982)
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