Idioma:

Scanning electron microscopy

Marcelo de Assumpção Pereira da Silva Fabio A Ferri

Da Róz, Alessandra L.; Ferreira, Marystela; Leite, Fabio de Lima; Oliveira Junior, Osvaldo Novais, eds. Nanocharacterization techniques Amsterdam : Elsevier, 2017

Amsterdam Elsevier 2017

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos (PROD027221 )(Acessar)

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Título:
Scanning electron microscopy
Autor: Marcelo de Assumpção Pereira da Silva
Fabio A Ferri
Assuntos: NANOTECNOLOGIA; ESPECTROSCOPIA; MICROANÁLISE; Diffraction; Scattering; Spectroscopy; Lithography; Microanalysis; Microscopy; Nanofabrication; Nanomanipulation; Nanomachine; Nanoassembly
É parte de: Da Róz, Alessandra L.; Ferreira, Marystela; Leite, Fabio de Lima; Oliveira Junior, Osvaldo Novais, eds. Nanocharacterization techniques Amsterdam : Elsevier, 2017
Notas: Disponível em: . Acesso em: 31 jan. 2018
Editor: Amsterdam Elsevier
Data de criação/publicação: 2017
Formato: cap. 1, p. 1-35.
Idioma: Inglês

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Marcelo de Assumpção Pereira da Silva Fabio A Ferri

Amsterdam Elsevier 2017

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