Diagnostic of silicon carbide surge arresters using leakage current measurement
Arnaldo Gakiya Kanashiro Milton Zanotti Junior; Paulo Futoshi Obase; Wilson Roberto Bacega
IEEE Latin America Tranasactions v.9, n.5, p.761- 766, Sep. 2011.Piscataway 2011
Localização: IEE - Inst. de Energia e Ambiente (Kanashiro, A.G.T.2241p )(Acessar)