skip to main content
Tipo de recurso Mostra resultados com: Mostra resultados com: Índice

Electrical characterization of semiconductors measurement of minority carrier properties

J. W. Orton P Blood

New York Academic Press c1990

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (537.622 O78eL )(Acessar)

  • Título:
    Electrical characterization of semiconductors measurement of minority carrier properties
  • Autor: J. W. Orton
  • P Blood
  • Assuntos: ELETRETOS
  • Títulos relacionados: Série:Techniques of Physics, 13
  • Editor: New York Academic Press
  • Data de criação/publicação: c1990
  • Formato: 291 p.
  • Idioma: Inglês

Buscando em bases de dados remotas. Favor aguardar.