Dependence of Generation-Recombination Noise With Gate Voltage in FD SOI MOSFETs

Luque Rodriguez, Abraham ; Jimenez Tejada, Juan A. ; Rodriguez-Bolivar, S. ; Mendes Almeida, Luciano ; Aoulaiche, M. ; Claeys, C. ; Simoen, E.

IEEE transactions on electron devices, 2012-10, Vol.59 (10), p.2780-2786 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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