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Materials reliability in Microelectronics, 8

Symposium on Materials Reliability in Microelectronics 1998 John...[et al] Bravman

Materials Research Society Symposia Proceedings New York, North-Holland, 1981-

New York North-Holland 1981-

Disponible en IFSC - Inst. Física de São Carlos    (P 530.418 M425 v.516 )(Obténgalo)

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