skip to main content
Tipo de recurso Mostra resultados com: Mostra resultados com: Índice

Defects in semiconductors

International Conference on Defects in Semiconductors, 18 1995 Sendai Masashi Suezawa; Hiroshi Katayama-Yoshida

Murch, G. E., ed; Wohlbier, H., ed Materials Science Forum Netherlands, Trans Tech, 1985-

Netherlands Trans Tech c1995

Localização: IF - Instituto de Física    (MS MASCF v.196-201 pt.4 ) e outros locais(Acessar)

Identifique-se para postar sua resenha

Identifique-se para adicionar novas tags

Buscando em bases de dados remotas. Favor aguardar.