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Analysis of the leakage drain current carriers in SOI MOSFETs operating at high-temperatures

Marcello Bellodi João Antonio Martino 1959-

São Paulo EPUSP 2002

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  • Título:
    Analysis of the leakage drain current carriers in SOI MOSFETs operating at high-temperatures
  • Autor: Marcello Bellodi
  • João Antonio Martino 1959-
  • Assuntos: FILMES FINOS
  • Títulos relacionados: Série:Boletim Técnico da Escola Politécnica da USP. Departamento de Engenharia de Sistemas Eletrônicos, BT / PSI / 0209
  • Editor: São Paulo EPUSP
  • Data de criação/publicação: 2002
  • Formato: p. 1-10.
  • Idioma: Inglês

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