Idioma:

2000 IEEE International Reliability Physics Symposium proceedings : 38th annual : San Jose, California, April 10-13, 2000

International Reliability Physics Symposium (38th 2000 San Jose, Calif.) IEEE Electron Devices Society; IEEE Reliability Society

Localização: EPBC - Esc. Politécnica-Bib Central (621.38 Ie2r 38. )(Acessar)

Título:
2000 IEEE International Reliability Physics Symposium proceedings : 38th annual : San Jose, California, April 10-13, 2000
Autor: International Reliability Physics Symposium (38th 2000 San Jose, Calif.)
IEEE Electron Devices Society; IEEE Reliability Society
Assuntos: Electronic apparatus and appliances -- Reliability -- Congresses; DISPOSITIVOS ELETRÔNICOS -- CONFIABILIDADE; CIRCUITOS INTEGRADOS
Notas: Includes bibliographical references
Editor: Piscataway, N.J. IEEE
Data de criação/publicação: c2000
Formato: vi1, 456 p. ill. 28 cm.
Idioma: Inglês

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