skip to main content
Tipo de recurso Mostra resultados com: Mostra resultados com: Índice

Grazing incidence X-ray diffraction and atomic force microscopy analysis of BaB'i IND.2' T'a IND.2'O IND.9' thin films

Valmor Roberto Mastelaro Cesar R Foschini; José A Varela

Thin Solid Films Amsterdam : Elsevier Science v. 415, n.1-2, p. 57-63, Aug. 2002

Amsterdam 2002

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD008206 )(Acessar)

Buscando em bases de dados remotas. Favor aguardar.