Background rejection in NEXT using deep neural networks

Renner, J. ; Farbin, A. ; Vidal, J. Muñoz ; Benlloch-Rodríguez, J.M. ; Botas, A. ; Ferrario, P. ; Gómez-Cadenas, J.J. ; Álvarez, V. ; Azevedo, C.D.R. ; Borges, F.I.G. ; Cárcel, S. ; Carrión, J.V. ; Cebrián, S. ; Cervera, A. ; Conde, C.A.N. ; Díaz, J. ; Diesburg, M. ; Esteve, R. ; Fernandes, L.M.P. ; Ferreira, A.L. ; Freitas, E.D.C. ; Goldschmidt, A. ; González-Díaz, D. ; Gutiérrez, R.M. ; Hauptman, J. ; Henriques, C.A.O. ; Morata, J.A. Hernando ; Herrero, V. ; Jones, B. ; Labarga, L. ; Laing, A. ; Lebrun, P. ; Liubarsky, I. ; López-March, N. ; Lorca, D. ; Losada, M. ; Martín-Albo, J. ; Martínez-Lema, G. ; Martínez, A. ; Monrabal, F. ; Monteiro, C.M.B. ; Mora, F.J. ; Moutinho, L.M. ; Nebot-Guinot, M. ; Novella, P. ; Nygren, D. ; Palmeiro, B. ; Para, A. ; Pérez, J. ; Querol, M. ; Ripoll, L. ; Rodríguez, J. ; Santos, F.P. ; Santos, J.M.F. dos ; Serra, L. ; Shuman, D. ; Simón, A. ; Sofka, C. ; Sorel, M. ; Toledo, J.F. ; Torrent, J. ; Tsamalaidze, Z. ; Veloso, J.F.C.A. ; White, J. ; Webb, R. ; Yahlali, N. ; Yepes-Ramírez, H.

Journal of instrumentation, 2017-01, Vol.12 (1), p.T01004-T01004 [Periódico revisado por pares]

United States: Institute of Physics (IOP)

Texto completo disponível