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Conclusions
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Capítulo de Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Conclusions

Oliveira, Leiva Casemiro ; Lima, Antonio Marcus Nogueira ; Thirstrup, Carsten ; Neff, Helmut Franz

Surface Plasmon Resonance Sensors, 2019, p.315-319

Cham: Springer International Publishing

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Citações Citado por
2
Surface Plasmon Resonance Sensors: A Materials Guide to Design, Characterization, Optimization, and Usage
Surface Plasmon Resonance Sensors: A Materials Guide to Design, Characterization, Optimization, and Usage
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Surface Plasmon Resonance Sensors: A Materials Guide to Design, Characterization, Optimization, and Usage

Oliveira, Leiva Casemiro ; Lima, Antonio Marcus Nogueira ; Thirstrup, Carsten ; Neff, Helmut Franz

Cham: Springer International Publishing 2019

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Citações Citado por
3
Artificial Metal-Insulator Multi-layer Structures
Artificial Metal-Insulator Multi-layer Structures
Material Type:
Capítulo de Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Artificial Metal-Insulator Multi-layer Structures

Oliveira, Leiva Casemiro ; Lima, Antonio Marcus Nogueira ; Thirstrup, Carsten ; Neff, Helmut Franz

Surface Plasmon Resonance Sensors, 2019, p.285-288

Cham: Springer International Publishing

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Citações Citado por
4
Sensor Properties of Metal Films and Particles: Free Electron Type Metals
Sensor Properties of Metal Films and Particles: Free Electron Type Metals
Material Type:
Capítulo de Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Sensor Properties of Metal Films and Particles: Free Electron Type Metals

Oliveira, Leiva Casemiro ; Lima, Antonio Marcus Nogueira ; Thirstrup, Carsten ; Neff, Helmut Franz

Surface Plasmon Resonance Sensors, 2019, p.49-73

Cham: Springer International Publishing

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Citações Citado por
5
Classical Noble Metals
Classical Noble Metals
Material Type:
Capítulo de Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Classical Noble Metals

Oliveira, Leiva Casemiro ; Lima, Antonio Marcus Nogueira ; Thirstrup, Carsten ; Neff, Helmut Franz

Surface Plasmon Resonance Sensors, 2019, p.75-110

Cham: Springer International Publishing

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Citações Citado por
6
Modeling and Data Processing
Modeling and Data Processing
Material Type:
Capítulo de Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Modeling and Data Processing

Oliveira, Leiva Casemiro ; Lima, Antonio Marcus Nogueira ; Thirstrup, Carsten ; Neff, Helmut Franz

Surface Plasmon Resonance Sensors, 2019, p.31-48

Cham: Springer International Publishing

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Citações Citado por
7
Heavy Metals
Heavy Metals
Material Type:
Capítulo de Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Heavy Metals

Oliveira, Leiva Casemiro ; Lima, Antonio Marcus Nogueira ; Thirstrup, Carsten ; Neff, Helmut Franz

Surface Plasmon Resonance Sensors, 2019, p.273-283

Cham: Springer International Publishing

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Citações Citado por
8
Active Metal-Type Compounds
Active Metal-Type Compounds
Material Type:
Capítulo de Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Active Metal-Type Compounds

Oliveira, Leiva Casemiro ; Lima, Antonio Marcus Nogueira ; Thirstrup, Carsten ; Neff, Helmut Franz

Surface Plasmon Resonance Sensors, 2019, p.257-272

Cham: Springer International Publishing

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Citações Citado por
9
Noble Transition Metals of the Platinum Group
Noble Transition Metals of the Platinum Group
Material Type:
Capítulo de Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Noble Transition Metals of the Platinum Group

Oliveira, Leiva Casemiro ; Lima, Antonio Marcus Nogueira ; Thirstrup, Carsten ; Neff, Helmut Franz

Surface Plasmon Resonance Sensors, 2019, p.111-153

Cham: Springer International Publishing

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Citações Citado por
10
Practical Applications
Practical Applications
Material Type:
Capítulo de Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Practical Applications

Oliveira, Leiva Casemiro ; Lima, Antonio Marcus Nogueira ; Thirstrup, Carsten ; Neff, Helmut Franz

Surface Plasmon Resonance Sensors, 2019, p.289-314

Cham: Springer International Publishing

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  1. Oliveira, L
  2. Neff, H
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Neste Assunto:

  1. Science & Technology
  2. Laser Technology & Holography
  3. Condensed Matter Physics
  4. Physics
  5. Electronic Devices & Materials

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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