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Growth optimization and structural analysis for ferromagnetic Mn-doped ZnO layers deposited by radio frequency magnetron sputtering

Abouzaid, M. ; Ruterana, P. ; Liu, C. ; Morkoç, H.

Journal of Applied Physics, 01 June 2006, Vol.99(11) [Periódico revisado por pares]

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Optical properties of Mg-doped VO 2 : Absorption measurements and hybrid functional calculations

Ahuja, R. ; Granqvist, C. G. ; Hermansson, K. ; Niklasson, G. A. ; Scheicher, R. H.

Applied Physics Letters, 12 November 2012, Vol.101(20) [Periódico revisado por pares]

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Dynamics of ion bombardment-induced modifications of Si(001) at the radio-frequency-biased electrode in low-pressure oxygen plasmas: In situ spectroscopic ellipsometry and Monte Carlo study

Amassian, A. ; Svec, M. ; Desjardins, P. ; Martinu, L.

Journal of Applied Physics, 15 September 2006, Vol.100(6) [Periódico revisado por pares]

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Growth dynamics of reactive-sputtering-deposited AlN films

Auger, M. A. ; Vázquez, L. ; Sánchez, O. ; Jergel, M. ; Cuerno, R. ; Castro, M.

Journal of Applied Physics, 15 June 2005, Vol.97(12) [Periódico revisado por pares]

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Ti Al N ∕ Ti Al O N ∕ Si 3 N 4 tandem absorber for high temperature solar selective applications

Barshilia, Harish C. ; Selvakumar, N. ; Rajam, K. S. ; Sridhara Rao, D. V. ; Muraleedharan, K. ; Biswas, A.

Applied Physics Letters, 06 November 2006, Vol.89(19) [Periódico revisado por pares]

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Raman scattering and photoluminescence studies on Si/SiO 2 superlattices

Benyoucef, M. ; Kuball, M. ; Sun, J. M. ; Zhong, G. Z. ; Fan, X. W.

Journal of Applied Physics, 15 June 2001, Vol.89(12), pp.7903-7907 [Periódico revisado por pares]

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Nanomechanical investigation of thin-film electroceramic/metal-organic framework multilayers

Best, James P. ; Michler, Johann ; Liu, Jianxi ; Wang, Zhengbang ; Tsotsalas, Manuel ; Maeder, Xavier ; Röse, Silvana ; Oberst, Vanessa ; Liu, Jinxuan ; Walheim, Stefan ; Gliemann, Hartmut ; Weidler, Peter G. ; Redel, Engelbert ; Wöll, Christof

Applied Physics Letters, 07 September 2015, Vol.107(10) [Periódico revisado por pares]

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X-ray diffraction study on residual stress and preferred orientation in thin titanium films subjected to a high ion flux during deposition

Birkholz, M. ; Genzel, C. ; Jung, T.

Journal of Applied Physics, 15 December 2004, Vol.96(12), pp.7202-7211 [Periódico revisado por pares]

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Substrate temperature effects on laser crystallized NiTi thin films

Birnbaum, A. J. ; Chung, Ui-Jin ; Huang, X. ; Im, James S. ; Ramirez, A. G. ; Yao, Y. L.

Journal of Applied Physics, 01 April 2009, Vol.105(7) [Periódico revisado por pares]

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Spectroscopic ellipsometry studies of GaN films deposited by reactive rf sputtering of GaAs target

Biswas, A. ; Bhattacharyya, D. ; Sahoo, N. K. ; Yadav, Brajesh S. ; Major, S. S. ; Srinivasa, R. S.

Journal of Applied Physics, 15 April 2008, Vol.103(8) [Periódico revisado por pares]

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