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A highly efficient algorithm for the generation of random fractal aggregates
A highly efficient algorithm for the generation of random fractal aggregates
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A highly efficient algorithm for the generation of random fractal aggregates

Brown, M.R. ; Errington, R. ; Rees, P. ; Williams, P.R. ; Wilks, S.P.

Physica. D, 2010-06, Vol.239 (12), p.1061-1066 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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2
Investigation of Graphene Growth on 4H-SiC
Investigation of Graphene Growth on 4H-SiC
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Investigation of Graphene Growth on 4H-SiC

Castaing, A. ; Guy, Owen J. ; Lodzinski, Michal ; Wilks, S.P.

Materials science forum, 2009-01, Vol.615-617, p.223-226 [Periódico revisado por pares]

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3
Report on 4H–SiC JTE Schottky diodes
Report on 4H–SiC JTE Schottky diodes
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Report on 4H–SiC JTE Schottky diodes

Chen, L. ; Guy, O.J. ; Doneddu, D. ; Batcup, S.G.J. ; Wilks, S.P. ; Mawby, P.A. ; Bouchet, T. ; Torregrosa, F.

Microelectronics and reliability, 2006-02, Vol.46 (2), p.637-640 [Periódico revisado por pares]

Oxford: Elsevier Ltd

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4
Study of 4H–SiC trench MOSFET structures
Study of 4H–SiC trench MOSFET structures
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Study of 4H–SiC trench MOSFET structures

Chen, L. ; Guy, O.J. ; Jennings, M.R. ; Igic, P. ; Wilks, S.P. ; Mawby, P.A.

Solid-state electronics, 2005-07, Vol.49 (7), p.1081-1085 [Periódico revisado por pares]

Oxford: Elsevier Ltd

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5
Study of a novel Si/SiC hetero-junction MOSFET
Study of a novel Si/SiC hetero-junction MOSFET
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Study of a novel Si/SiC hetero-junction MOSFET

Chen, L. ; Guy, O.J. ; Jennings, M.R. ; Igic, P. ; Wilks, S.P. ; Mawby, P.A.

Solid-state electronics, 2007-05, Vol.51 (5), p.662-666 [Periódico revisado por pares]

Oxford: Elsevier Ltd

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6
Electronic structures of silicon doped ZnO
Electronic structures of silicon doped ZnO
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Electronic structures of silicon doped ZnO

Chowdhury, R. ; Rees, P. ; Adhikari, S. ; Scarpa, F. ; Wilks, S.P.

Physica. B, Condensed matter, 2010-04, Vol.405 (8), p.1980-1985 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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7
Surface defects in semiconductor lasers studied with cross-sectional scanning tunneling microscopy
Surface defects in semiconductor lasers studied with cross-sectional scanning tunneling microscopy
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Surface defects in semiconductor lasers studied with cross-sectional scanning tunneling microscopy

Cobley, R.J. ; Teng, K.S. ; Brown, M.R. ; Rees, P. ; Wilks, S.P.

Applied surface science, 2010-07, Vol.256 (19), p.5736-5739 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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8
Cross-sectional scanning tunneling microscopy and spectroscopy of strain in buried heterostructure lasers
Cross-sectional scanning tunneling microscopy and spectroscopy of strain in buried heterostructure lasers
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Cross-sectional scanning tunneling microscopy and spectroscopy of strain in buried heterostructure lasers

Cobley, R.J. ; Teng, K.S. ; Maffeïs, T.G.G. ; Wilks, S.P.

Surface science, 2006-07, Vol.600 (14), p.2857-2859 [Periódico revisado por pares]

Lausanne: Elsevier B.V

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9
X-ray photoelectron spectroscopy studies on the formation of chromium contacts to single-crystal CVD diamond
X-ray photoelectron spectroscopy studies on the formation of chromium contacts to single-crystal CVD diamond
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X-ray photoelectron spectroscopy studies on the formation of chromium contacts to single-crystal CVD diamond

Doneddu, D. ; Guy, O.J. ; Dunstan, P.R. ; Maffeis, T.G.G. ; Teng, K.S. ; Wilks, S.P. ; Igic, P. ; Twitchen, D. ; Clement, R.M.

Surface science, 2008-03, Vol.602 (6), p.1135-1140 [Periódico revisado por pares]

Lausanne: Elsevier B.V

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10
MeV proton generation and efficiency from an intense laser irradiated foil
MeV proton generation and efficiency from an intense laser irradiated foil
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MeV proton generation and efficiency from an intense laser irradiated foil

Foord, M.E. ; Patel, P.K. ; Mackinnon, A.J. ; Hatchett, S.P. ; Key, M.H. ; Lasinski, B. ; Town, R.P.J. ; Tabak, M. ; Wilks, S.C.

High energy density physics, 2007-10, Vol.3 (3), p.365-370 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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