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1
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Artigo
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Spatial distribution of the charged particles and potentials during beam extraction in a negative-ion source a)

Tsumori, K. ; Nakano, H. ; Kisaki, M. ; Ikeda, K. ; Nagaoka, K. ; Osakabe, M. ; Takeiri, Y. ; Kaneko, O. ; Shibuya, M. ; Asano, E. ; Kondo, T. ; Sato, M. ; Komada, S. ; Sekiguchi, H. ; Kameyama, N. ; Fukuyama, T. ; Wada, S. ; Hatayama, A.

14th International Conference on Ion Sources (Icis 2011), Giardini-Naxos, Sicily (Italy) (12-16 September 2011): Review of Scientific Instruments, February 2012, Vol.83(2) [Periódico revisado por pares]

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2
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Artigo
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Charged particle flows in the beam extraction region of a negative ion source for NBI

Geng, S. ; Tsumori, K. ; Nakano, H. ; Kisaki, M. ; Ikeda, K. ; Osakabe, M. ; Nagaoka, K. ; Takeiri, Y. ; Shibuya, M. ; Kaneko, O.

Review of Scientific Instruments, February 2016, Vol.87(2) [Periódico revisado por pares]

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3
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Artigo
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Negative ion production and beam extraction processes in a large ion source (invited)

Tsumori, K. ; Ikeda, K. ; Nakano, H. ; Kisaki, M. ; Geng, S. ; Wada, M. ; Sasaki, K. ; Nishiyama, S. ; Goto, M. ; Serianni, G. ; Agostinetti, P. ; Sartori, E. ; Brombin, M. ; Veltri, P. ; Wimmer, C. ; Nagaoka, K. ; Osakabe, M. ; Takeiri, Y. ; Kaneko, O.

Review of Scientific Instruments, February 2016, Vol.87(2) [Periódico revisado por pares]

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4
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Artigo
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Development of spectrally selective imaging system for negative hydrogen ion source a)

Ikeda, K. ; Nakano, H. ; Tsumori, K. ; Kisaki, M. ; Nagaoka, K. ; Osakabe, M. ; Takeiri, Y. ; Kaneko, O.

14th International Conference on Ion Sources (Icis 2011), Giardini-Naxos, Sicily (Italy) (12-16 September 2011): Review of Scientific Instruments, February 2014, Vol.85(2) [Periódico revisado por pares]

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5
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Artigo
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Characteristics of plasma grid bias in large-scaled negative ion source a)

Kisaki, M. ; Tsumori, K. ; Ikeda, K. ; Nakano, H. ; Osakabe, M. ; Nagaoka, K. ; Takeiri, Y. ; Kaneko, O.

14th International Conference on Ion Sources (Icis 2011), Giardini-Naxos, Sicily (Italy) (12-16 September 2011): Review of Scientific Instruments, February 2014, Vol.85(2) [Periódico revisado por pares]

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6
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Artigo
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Electron density measurement of cesium seeded negative ion source by surface wave probe a)

Kisaki, M. ; Tsumori, K. ; Nakano, H. ; Ikeda, K. ; Osakabe, M. ; Nagaoka, K. ; Shibuya, M. ; Sato, M. ; Sekiguchi, H. ; Komada, S. ; Kondo, T. ; Hayashi, H. ; Asano, E. ; Takeiri, Y. ; Kaneko, O.

14th International Conference on Ion Sources (Icis 2011), Giardini-Naxos, Sicily (Italy) (12-16 September 2011): Review of Scientific Instruments, February 2012, Vol.83(2) [Periódico revisado por pares]

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7
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Artigo
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Characteristics of 80 keV positive ion source for Large Helical Device a)

Nakano, H. ; Osakabe, M. ; Tsumori, K. ; Sato, M. ; Shibuya, M. ; Ikeda, K. ; Nagaoka, K. ; Kaneko, O. ; Asano, E. ; Kondo, T. ; Komada, S. ; Takeiri, Y.

13th International Conference on Ion Sources (Icis 2009), Gatlinburg, Tennessee (USA) (20-25 September 2009): Review of Scientific Instruments, February 2010, Vol.81(2) [Periódico revisado por pares]

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8
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Artigo
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Beamlet characteristics in the accelerator with multislot grounded grid a)

Tsumori, K. ; Osakabe, M. ; Takeiri, Y. ; Kaneko, O. ; Nagaoka, K. ; Ikeda, K. ; Nakano, H. ; Oka, Y. ; Shibuya, M. ; Asano, E. ; Komada, S. ; Kondo, T. ; Sato, M.

13th International Conference on Ion Sources (Icis 2009), Gatlinburg, Tennessee (USA) (20-25 September 2009): Review of Scientific Instruments, February 2010, Vol.81(2) [Periódico revisado por pares]

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9
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Artigo
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Improvement of accelerator of negative ion source on the Large Helical Device

Kisaki, M. ; Ikeda, K. ; Osakabe, M. ; Tsumori, K. ; Nakano, H. ; Geng, S. ; Nagaoka, K. ; Kaneko, O. ; Takeiri, Y.

Review of Scientific Instruments, February 2016, Vol.87(2) [Periódico revisado por pares]

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10
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Artigo
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Optical measurement of Cs distribution in the large negative ion source a)

Ikeda, K. ; Nagaoka, K. ; Takeiri, Y. ; Fantz, U. ; Kaneko, O. ; Osakabe, M. ; Oka, Y. ; Tsumori, K.

Proceedings Of 12th International Conference On Ion Sources (Icis 2007), Jeju (Korea) (26-31 August 2007): Review of Scientific Instruments, February 2008, Vol.79(2) [Periódico revisado por pares]

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