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1
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Artigo
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Modeling and Temperature Drift Compensation Method for Surface Plasmon Resonance-Based Sensors

de Souza Filho, Carlos Alberto ; Nogueira Lima, Antonio Marcus ; Neff, Franz Helmut

IEEE Sensors Journal, 01 October 2017, Vol.17(19), pp.6246-6257 [Periódico revisado por pares]

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2
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Artigo
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Surface Plasmon Resonance Sensing Characteristics of Thin Aluminum Films in Aqueous Solution

Casemiro Oliveira, Leiva ; Herbster, Adolfo ; Da Silva Moreira, Cleumar ; Neff, Franz Helmut ; Nogueira Lima, Antonio Marcus

IEEE Sensors Journal, 01 October 2017, Vol.17(19), pp.6258-6267 [Periódico revisado por pares]

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3
Material Type:
Artigo
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Hammer impact test applied for fouling detection in pipelines

Silva, Jaidilson Jó Da ; Neff, Franz Helmut ; Lima, Antonio Marcus Nogueira ; Rocha Neto, José Sérgio Da

Sba: Controle & Automação Sociedade Brasileira de Automatica, 01 December 2011, Vol.22(6), pp.620-630 [Periódico revisado por pares]

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4
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Artigo
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Non-invasive fast detection of internal fouling layers in tubes and ducts by acoustic vibration analysis.(Technical report)

Da Silva, Jaidilson Jo ; Lima, Antonio Marcus Nogueira ; Neff, Franz Helmut ; Da Rocha Neto, Jose Sergio

IEEE Transactions on Instrumentation & Measurement, Jan, 2009, Vol.58(1), p.108(7) [Periódico revisado por pares]

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5
Surface Plasmon Resonance Sensors: A Materials Guide to Design and Optimization
Material Type:
Livro
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Surface Plasmon Resonance Sensors: A Materials Guide to Design and Optimization

Oliveira, Leiva Casemiro ; Lima, Antonio Marcus Nogueira ; Thirstrup, Carsten ; Neff, Helmut Franz Babaev, Egor (Editor) ; Bremer, Malcolm (Editor) ; Calmet, Xavier (Editor) ; Di Lodovico, Francesca (Editor) ; Hoogerland, Maarten (Editor) ; Le Ru, Eric (Editor) ; Lewerenz, Hans-Joachim (Editor) ; Overduin, James (Editor) ; Petkov, Vesselin (Editor) ; Wang, Charles H.-T (Editor) ; Whitaker, Andrew (Editor)

SpringerBriefs in Physics

Cham: Springer International Publishing 2015

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6
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Artigo
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A hysteresis model for a vanadium dioxide transition-edge microbolometer

Freire, Raimundo Carlos ; Neff, Helmut Franz ; De Almeida, Luiz Alberto Luz ; Lima, Antonio Marcus Nogueira ; Deep, Gurdip Singh

IEEE Transactions on Instrumentation & Measurement, August, 2001, Vol.50(4), p.1030(6) [Periódico revisado por pares]

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