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Thermoelectric properties of pulsed electric current sintered samples of AgPb{sub m}SbSe{sub 17}

Wu, Chun-I ; Todorov, Iliya ; Kanatzidis, Mercouri G ; Timm, Edward J ; Case, Eldon D ; Schock, Harold ; Hogan, Timothy P Energy Frontier Research Centers (Efrc) (Corporate Author) ; Energy Frontier Research Center (Efrc), Revolutionary Materials for Solid State Energy Conversion (Rmssec) (United States) (Corporate Author)

Journal of Electronic Materials, 01 January 2011, Vol.Online [Periódico revisado por pares]

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Reduced lattice thermal conductivity in Bi-doped Mg 2 Si 0.4 Sn 0.6

Gao, Peng ; Lu, Xu ; Berkun, Isil ; Schmidt, Robert D. ; Case, Eldon D. ; Hogan, Timothy P.

Applied Physics Letters, 17 November 2014, Vol.105(20) [Periódico revisado por pares]

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The thermal expansion coefficient as a key design parameter for thermoelectric materials and its relationship to processing-dependent bloating

Ni, Jennifer ; Case, Eldon ; Schmidt, Robert ; Wu, Chun-I ; Hogan, Timothy ; Trejo, Rosa ; Kirkham, Melanie ; Lara-Curzio, Edgar ; Kanatzidis, Mercouri

Journal of Materials Science, 2013, Vol.48(18), pp.6233-6244 [Periódico revisado por pares]

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Thermoelectric Properties of Pulsed Electric Current Sintered Samples of AgPb m SbSe 17 ( m  = 16 or 17)

Wu, Chun-I ; Todorov, Ilyia ; Kanatzidis, Mercouri ; Timm, Edward ; Case, Eldon ; Schock, Harold ; Hogan, Timothy

Journal of Electronic Materials, 2012, Vol.41(6), pp.1579-1582 [Periódico revisado por pares]

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Room temperature Young's modulus, shear modulus, Poisson's ratio and hardness of PbTe–PbS thermoelectric materials

Ni, Jennifer E ; Case, Eldon D ; Khabir, Kristen N ; Stewart, Ryan C ; Wu, Chun-I ; Hogan, Timothy P ; Timm, Edward J ; Girard, Steven N ; Kanatzidis, Mercouri G

Materials Science & Engineering B, 2010, Vol.170(1), pp.58-66 [Periódico revisado por pares]

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Nanostructured Thermoelectric Materials and High-Efficiency Power-Generation Modules

Hogan, Timothy ; Downey, Adam ; Short, Jarrod ; D’Angelo, Jonathan ; Wu, Chun-I ; Quarez, Eric ; Androulakis, John ; Poudeu, Pierre F.P. ; Sootsman, Joseph ; Chung, Duck-Young ; Kanatzidis, Mercouri G. ; Mahanti, S.D. ; Timm, Edward ; Schock, Harold ; Ren, Fei ; Johnson, Jason ; Case, Eldon

Journal of Electronic Materials, 2007, Vol.36(7), pp.704-710 [Periódico revisado por pares]

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