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Textured metastable VO 2 (B) thin films on SrTiO 3 substrates with significantly enhanced conductivity

Chen, Aiping ; Bi, Zhenxing ; Zhang, Wenrui ; Jian, Jie ; Jia, Quanxi ; Wang, Haiyan

Applied Physics Letters, 17 February 2014, Vol.104(7) [Periódico revisado por pares]

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Interplay of point defects, biaxial strain, and thermal conductivity in homoepitaxial SrTiO 3 thin films

Wiedigen, S. ; Kramer, T. ; Feuchter, M. ; Knorr, I. ; Nee, N. ; Hoffmann, J. ; Kamlah, M. ; Volkert, C. A. ; Jooss, Ch.

Applied Physics Letters, 06 February 2012, Vol.100(6) [Periódico revisado por pares]

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3
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Molecular beam epitaxial growth of a three-dimensional topological Dirac semimetal Na 3 Bi

Liu, Zhongkai ; Zhou, Bo ; Kim, Yeongkwan ; Hussain, Zahid ; Shen, Zhi-Xun ; Chen, Yulin ; Mo, Sung-Kwan

Applied Physics Letters, 21 July 2014, Vol.105(3) [Periódico revisado por pares]

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Bending stiffness and interlayer shear modulus of few-layer graphene

Chen, Xiaoming ; Yi, Chenglin ; Ke, Changhong

Applied Physics Letters, 09 March 2015, Vol.106(10) [Periódico revisado por pares]

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Second-order nonlinear optical metamaterials: ABC-type nanolaminates

Alloatti, L. ; Kieninger, C. ; Froelich, A. ; Lauermann, M. ; Frenzel, T. ; Köhnle, K. ; Freude, W. ; Leuthold, J. ; Wegener, M. ; Koos, C.

Applied Physics Letters, 21 September 2015, Vol.107(12) [Periódico revisado por pares]

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Impurity dominated thin film growth

Cougnon, F. G. ; Dulmaa, A. ; Dedoncker, R. ; Galbadrakh, R. ; Depla, D.

Applied Physics Letters, 28 May 2018, Vol.112(22) [Periódico revisado por pares]

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Direct evidence of strain transfer for InAs island growth on compliant Si substrates

Marçal, L. A. B. ; Richard, M.-I. ; Magalhães-Paniago, R. ; Cavallo, F. ; Lagally, M. G. ; Schmidt, O. G. ; Schülli, T. Ü. ; Deneke, Ch. ; Malachias, Angelo

Applied Physics Letters, 13 April 2015, Vol.106(15) [Periódico revisado por pares]

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An ultra-thin buffer layer for Ge epitaxial layers on Si

Kawano, M. ; Yamada, S. ; Tanikawa, K. ; Sawano, K. ; Miyao, M. ; Hamaya, K.

Applied Physics Letters, 25 March 2013, Vol.102(12) [Periódico revisado por pares]

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Two-step growth of high quality Bi 2 Te 3 thin films on Al 2 O 3 (0001) by molecular beam epitaxy

Harrison, S. E. ; Li, S. ; Huo, Y. ; Zhou, B. ; Chen, Y. L. ; Harris, J. S.

Applied Physics Letters, 29 April 2013, Vol.102(17) [Periódico revisado por pares]

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Resistive spectroscopy coupled with non-contacting oscillator for detecting discontinuous-continuous transition of metallic films

Nakamura, N. ; Ogi, H.

Applied Physics Letters, 04 September 2017, Vol.111(10) [Periódico revisado por pares]

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