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![Measurement of the absolute branching fraction for [ital D][sup 0][r arrow][ital K][sup [minus]][pi][sup +]](../images/pixel.png){kind=tracking}
Material Type: Artigo
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Measurement of the absolute branching fraction for [ital D][sup 0][r arrow][ital K][sup [minus]][pi][sup +]Akerib, D.S. ; Barish, B. ; Chadha, M. ; Chan, S. ; Cowen, D.F. ; Eigen, G. ; Miller, J.S. ; O'Grady, C. ; Urheim, J. ; Weinstein, A.J. ; Acosta, D. ; Athanas, M. ; Masek, G. ; Paar, H. ; Bean, A. ; Gronberg, J. ; Kutschke, R. ; Menary, S. ; Morrison, R.J. ; Nakanishi, S. ; Nelson, H.N. ; Nelson, T.K. ; Richman, J.D. ; Ryd, A. ; Tajima, H. ; Schmidt, D. ; Sperka, D. ; Witherell, M.S. ; Procario, M. ; Yang, S. ; Balest, R. ; Cho, K. ; Daoudi, M. ; Ford, W.T. ; Johnson, D.R. ; Lingel, K. ; Lohner, M. ; Rankin, P. ; Smith, J.G. ; Alexander, J.P. ; Bebek, C. ; Berkelman, K. ; Besson, D. ; Browder, T.E. ; Cassel, D.G. ; Cho, H.A. ; Coffman, D.M. ; Drell, P.S. ; Ehrlich, R. ; Garcia-Sciveres, M. ; Geiser, B. ; Gittelman, B. ; Gray, S.W. ; Hartill, D.L. ; Heltsley, B.K. ; Jones, C.D. ; Jones, S.L. ; Kandaswamy, J. ; Katayama, N. ; Kim, P.C. ; Kreinick, D.L. ; Ludwig, G.S. ; Masui, J. ; Mevissen, J. ; Mistry, N.B. ; Ng, C.R. ; Nordberg, E. ; Ogg, M. ; Patterson, J.R. ; Peterson, D. ; Riley, D. ; Salman, S. ; Sapper, M. ; Worden, H. ; Wuerthwein, F. ; Avery, P. ; FreybPhysical review letters, 1993-11, Vol.71:19 [Periódico revisado por pares]United StatesTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Measurement of the branching fraction for [ital D][sup +][r arrow][ital K][sup [minus]][pi][sup +][pi][sup +]Balest, R. ; Cho, K. ; Daoudi, M. ; Ford, W.T. ; Johnson, D.R. ; Lingel, K. ; Lohner, M. ; Rankin, P. ; Smith, J.G. ; Alexander, J.P. ; Bebek, C. ; Berkelman, K. ; Bloom, K. ; Browder, T.E. ; Cassel, D.G. ; Cho, H.A. ; Coffman, D.M. ; Drell, P.S. ; Ehrlich, R. ; Gaiderev, P. ; Garcia-Sciveres, M. ; Geiser, B. ; Gittelman, B. ; Gray, S.W. ; Hartill, D.L. ; Heltsley, B.K. ; Jones, C.D. ; Jones, S.L. ; Kandaswamy, J. ; Katayama, N. ; Kim, P.C. ; Kreinick, D.L. ; Ludwig, G.S. ; Masui, J. ; Mevissen, J. ; Mistry, N.B. ; Ng, C.R. ; Nordberg, E. ; Patterson, J.R. ; Peterson, D. ; Riley, D. ; Salman, S. ; Sapper, M. ; Wuerthwein, F. ; Avery, P. ; Freyberger, A. ; Rodriguez, J. ; Stephens, R. ; Yang, S. ; Yelton, J. ; Cinabro, D. ; Henderson, S. ; Liu, T. ; Saulnier, M. ; Wilson, R. ; Yamamoto, H. ; Bergfeld, T. ; Eisenstein, B.I. ; Gollin, G. ; Ong, B. ; Palmer, M. ; Selen, M. ; Thaler, J.J. ; Sadoff, A.J. ; Ammar, R. ; Ball, S. ; Baringer, P. ; Bean, A. ; Besson, D. ; Coppage, D. ; Copty, N. ; Davis, R. ; Hancock, N. ; Kelly, M. ; Kwak, N. ; Lam, H. ; Kubota, Y. ; LatPhysical review letters, 1994-04, Vol.72:15 [Periódico revisado por pares]United StatesTexto completo disponível |
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