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Comprehensive Analysis of Sheet Thickness Scaling on the Performance of Nanosheet nFETs
Comprehensive Analysis of Sheet Thickness Scaling on the Performance of Nanosheet nFETs
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Comprehensive Analysis of Sheet Thickness Scaling on the Performance of Nanosheet nFETs

Kaur, Ramandeep ; Mohapatra, Nihar R.

IEEE transactions on electron devices, 2024-05, Vol.71 (5), p.2856-2862 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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2
Optimum Channel Design of Extremely-Thin-Body nMOSFETs Utilizing Anisotropic Valley-Robust to Surface Roughness Scattering
Optimum Channel Design of Extremely-Thin-Body nMOSFETs Utilizing Anisotropic Valley-Robust to Surface Roughness Scattering
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Optimum Channel Design of Extremely-Thin-Body nMOSFETs Utilizing Anisotropic Valley-Robust to Surface Roughness Scattering

Sumita, Kei ; Chen, Chia-Tsong ; Toprasertpong, Kasidit ; Takenaka, Mitsuru ; Takagi, Shinichi

IEEE transactions on electron devices, 2022-04, Vol.69 (4), p.2115-2121 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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3
Green chemical mechanical polishing of sapphire wafers using a novel slurry
Green chemical mechanical polishing of sapphire wafers using a novel slurry
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Green chemical mechanical polishing of sapphire wafers using a novel slurry

Xie, Wenxiang ; Zhang, Zhenyu ; Liao, Longxing ; Liu, Jie ; Su, Hongjiu ; Wang, Shudong ; Guo, Dongming

Nanoscale, 2020-11, Vol.12 (44), p.22518-22526 [Periódico revisado por pares]

Cambridge: Royal Society of Chemistry

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4
Analysis of Low Frequency Noise in Schottky Junction Trigate Silicon Nanowire FET on Bonded SOI Substrate
Analysis of Low Frequency Noise in Schottky Junction Trigate Silicon Nanowire FET on Bonded SOI Substrate
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Analysis of Low Frequency Noise in Schottky Junction Trigate Silicon Nanowire FET on Bonded SOI Substrate

Yu, Yingtao ; Zhang, Zhen ; Chen, Si

IEEE transactions on electron devices, 2022-08, Vol.69 (8), p.4667-4673 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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5
Influence of surface roughness on nanosecond laser-induced shock wave enhancement effects
Influence of surface roughness on nanosecond laser-induced shock wave enhancement effects
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Influence of surface roughness on nanosecond laser-induced shock wave enhancement effects

Chen, Lei ; Guo, Chuan ; Liu, Zelin ; Liu, Hao ; Chen, Minsun ; Xu, Zhongjie ; Zhao, Guomin ; Han, Kai

Applied optics (2004), 2022-10, Vol.61 (29), p.8859 [Periódico revisado por pares]

Washington: Optical Society of America

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6
Ultrasonic vibration assisted double disc chemo-magnetorheological finishing of silicon wafer: Experimental investigations and optimization for surface roughness
Ultrasonic vibration assisted double disc chemo-magnetorheological finishing of silicon wafer: Experimental investigations and optimization for surface roughness
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Ultrasonic vibration assisted double disc chemo-magnetorheological finishing of silicon wafer: Experimental investigations and optimization for surface roughness

Srivastava, Mayank ; Singh, Gurminder ; Pandey, Pulak M

Proceedings of the Institution of Mechanical Engineers. Part B, Journal of engineering manufacture, 2024-05, Vol.238 (6-7), p.1041-1056 [Periódico revisado por pares]

London, England: SAGE Publications

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7
A comprehensive study on slicing processes optimization of silicon ingot for photovoltaic applications
A comprehensive study on slicing processes optimization of silicon ingot for photovoltaic applications
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A comprehensive study on slicing processes optimization of silicon ingot for photovoltaic applications

Ozturk, Savas ; Aydin, Levent ; Celik, Erdal

Solar energy, 2018-02, Vol.161, p.109-124 [Periódico revisado por pares]

New York: Elsevier Ltd

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8
Influence of disorder and surface roughness on the electrical and thermalproperties of lithiated silicon nanowires
Influence of disorder and surface roughness on the electrical and thermalproperties of lithiated silicon nanowires
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Influence of disorder and surface roughness on the electrical and thermalproperties of lithiated silicon nanowires

Bauer, Dominik ; Luisier Mathieu

Journal of applied physics, 2020-04, Vol.127 (13) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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9
Scaling and Variation Predictions for Silicon Fin-Based High Electron Mobility Transistor
Scaling and Variation Predictions for Silicon Fin-Based High Electron Mobility Transistor
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Scaling and Variation Predictions for Silicon Fin-Based High Electron Mobility Transistor

Kim, Sung-Ho ; Park, Jong Yul ; Chang, Jiwon ; Kim, Kyung Rok

IEEE electron device letters, 2020-11, Vol.41 (11), p.1621-1624 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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10
Optimization of lapping processes of silicon wafer for photovoltaic applications
Optimization of lapping processes of silicon wafer for photovoltaic applications
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Optimization of lapping processes of silicon wafer for photovoltaic applications

Ozturk, Savas ; Aydin, Levent ; Kucukdogan, Nilay ; Celik, Erdal

Solar energy, 2018-04, Vol.164, p.1-11 [Periódico revisado por pares]

New York: Elsevier Ltd

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