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Refinado por: assunto: Proton-Induced X-Ray Emission remover
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1
PIXE a novel technique for elemental analysis
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Livro
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PIXE a novel technique for elemental analysis

Sven A. E. Johansson 1923- John L Campbell

Chichester New York Wiley c1988

Localização: CQ - Conjunto das Químicas    (543.08586 J65p )(Acessar)

2
Particle-induced X-ray emission spectrometry (PIXE)
Material Type:
Livro
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Particle-induced X-ray emission spectrometry (PIXE)

Sven A. E. Johansson 1923-; John L. Campbell 1941-; Klas G Malmqvist

New York : Wiley c1995

Emprestado de IF - Instituto de Física    (543.62 J65p )(Acessar)

3
2nd International Workshop XRF and PIXE Applications in Life Science Capri, Italy, 29-30 June 1989
Material Type:
Livro
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2nd International Workshop XRF and PIXE Applications in Life Science Capri, Italy, 29-30 June 1989

International Workshop XRF and PIXE in Life Science (2nd 1989 Capri, Italy) Renata Moro; Roberto Cesario

Singapore World Scientific Teaneck, NJ c1990

Localização: IF - Instituto de Física    (574.1921406 I61x 2nd ) e outros locais(Acessar)

4
Material Type:
Artigo
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Utilization of renal slices to evaluate the efficacy of chelating agents for removing mercury from the kidney

Keith, R.L ; Setiarahardjo, I ; Fernando, Q ; Aposhian, H.V ; Gandolfi, A.J

Toxicology, 15 January 1997, Vol.116(1-3), pp.67-75 [Periódico revisado por pares]

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5
Development and Application of a Scanning Ion Microprobe
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Relatório Técnico
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Development and Application of a Scanning Ion Microprobe

Meehan, Bernard T Naval Academy Annapolis MD (Corporate Author)

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6
Material Type:
Artigo
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Hydrogen migration in diamond-like carbon films

Vainonen, E. ; Likonen, J. ; Ahlgen, T. ; Haussalo, P. ; Keinonen, J.

Journal of Applied Physics, Oct 15, 1997, Vol.82(8), p.3791(6) [Periódico revisado por pares]

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7
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Artigo
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X-ray spectrometry

Torok, Szabina B. ; Van Grieken, Rene E.

Analytical Chemistry, June 15, 1992, Vol.64(12), p.180R(17) [Periódico revisado por pares]

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8
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Artigo
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Time-resolved kiloelectron-volt spectroscopy of ultrashort plasmas

Kieffer, J. C. ; Chaker, M. ; Cote, C. Y. ; Beaudoin, Y. ; Pepin, H. ; Chien, C. Y. ; Coe, S. ; Mourou, G.

Applied Optics, August 1, 1993, Vol.32(22), p.4247(6) [Periódico revisado por pares]

Texto completo disponível

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