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Printed Carbon Nanotubes-Based Flexible Resistive Humidity Sensor
Printed Carbon Nanotubes-Based Flexible Resistive Humidity Sensor
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Printed Carbon Nanotubes-Based Flexible Resistive Humidity Sensor

Zhang, Xingzhe ; Maddipatla, Dinesh ; Bose, Arnesh K. ; Hajian, Sajjad ; Narakathu, Binu Baby ; Williams, John D. ; Mitchell, Michael F. ; Atashbar, Massood Z.

IEEE sensors journal, 2020-11, Vol.20 (21), p.12592-12601 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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2
In Memoriam: William D. Doyle (1935-2008)
In Memoriam: William D. Doyle (1935-2008)
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In Memoriam: William D. Doyle (1935-2008)

IEEE transactions on magnetics, 2009-01, Vol.45 (1), p.58-59

New York: IEEE

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3
An AlN MEMS Piezoelectric Microphone for Aeroacoustic Applications
An AlN MEMS Piezoelectric Microphone for Aeroacoustic Applications
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An AlN MEMS Piezoelectric Microphone for Aeroacoustic Applications

Williams, M. D. ; Griffin, B. A. ; Reagan, T. N. ; Underbrink, J. R. ; Sheplak, M.

Journal of microelectromechanical systems, 2012-04, Vol.21 (2), p.270-283 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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4
Honoring a Legend: The William D. Nix Award
Honoring a Legend: The William D. Nix Award
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Honoring a Legend: The William D. Nix Award

Calva, Kaitlin

JOM (1989), 2019-03, Vol.71 (3), p.850-851 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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5
Aluminum Nitride Ultrasonic Air-Coupled Actuator
Aluminum Nitride Ultrasonic Air-Coupled Actuator
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Aluminum Nitride Ultrasonic Air-Coupled Actuator

Griffin, B A ; Williams, M D ; Coffman, C S ; Sheplak, M

Journal of microelectromechanical systems, 2011-04, Vol.20 (2), p.476-486 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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6
Engineering new limits to magnetostriction through metastability in iron-gallium alloys
Engineering new limits to magnetostriction through metastability in iron-gallium alloys
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Engineering new limits to magnetostriction through metastability in iron-gallium alloys

Meisenheimer, P B ; Steinhardt, R A ; Sung, S H ; Williams, L D ; Zhuang, S ; Nowakowski, M E ; Novakov, S ; Torunbalci, M M ; Prasad, B ; Zollner, C J ; Wang, Z ; Dawley, N M ; Schubert, J ; Hunter, A H ; Manipatruni, S ; Nikonov, D E ; Young, I A ; Chen, L Q ; Bokor, J ; Bhave, S A ; Ramesh, R ; Hu, J-M ; Kioupakis, E ; Hovden, R ; Schlom, D G ; Heron, J T

Nature communications, 2021-05, Vol.12 (1), p.2757-2757, Article 2757 [Periódico revisado por pares]

England: Nature Publishing Group

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7
An in-plane cantilever for wall shear stress measurement
An in-plane cantilever for wall shear stress measurement
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An in-plane cantilever for wall shear stress measurement

Allen, N J ; Sims-Williams, D B ; Wood, D

Journal of micromechanics and microengineering, 2012-07, Vol.22 (7), p.74007-8 [Periódico revisado por pares]

Bristol: IOP Publishing

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8
Electronic field effect tuning of the electronic properties of fluorinated epitaxial graphene
Electronic field effect tuning of the electronic properties of fluorinated epitaxial graphene
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Electronic field effect tuning of the electronic properties of fluorinated epitaxial graphene

McAllister, Kelly D. ; Williams, Michael D. ; Sherpa, Sonam D. ; Hess, Dennis W.

Journal of vacuum science and technology. B, Nanotechnology & microelectronics, 2017-03, Vol.35 (2) [Periódico revisado por pares]

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9
Modeling, Simulation, and Flight Tests for a T-38 Talon with Wing Fences
Modeling, Simulation, and Flight Tests for a T-38 Talon with Wing Fences
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Modeling, Simulation, and Flight Tests for a T-38 Talon with Wing Fences

Williams, Michael D ; Reeder, Mark F ; Maple, Raymond C ; Solfelt, Daniel A

Journal of aircraft, 2010-03, Vol.47 (2), p.423-433 [Periódico revisado por pares]

Reston, VA: American Institute of Aeronautics and Astronautics

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10
Metallic Spiral Three-Dimensional Photonic Crystal with a Full Band Gap at Optical Communication Wavelengths
Metallic Spiral Three-Dimensional Photonic Crystal with a Full Band Gap at Optical Communication Wavelengths
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Metallic Spiral Three-Dimensional Photonic Crystal with a Full Band Gap at Optical Communication Wavelengths

Po Sun ; Williams, J. D.

IEEE photonics journal, 2012-08, Vol.4 (4), p.1155-1162 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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