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1
High-Voltage CMOS Active Pixel Sensor
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High-Voltage CMOS Active Pixel Sensor

Peric, Ivan ; Andreazza, Attilio ; Augustin, Heiko ; Barbero, Marlon ; Benoit, Mathieu ; Casanova, Raimon ; Ehrler, Felix ; Iacobucci, Giuseppe ; Leys, Richard ; Gonzalez, Annie Meneses ; Pangaud, Patrick ; Prathapan, Mridula ; Schimassek, Rudolf ; Schoning, Andre ; Figueras, Eva Vilella ; Weber, Alena ; Weber, Michele ; Wong, Winnie ; Zhang, Hui

IEEE J.Solid State Circuits, 2021-08, Vol.56 (8), p.2488-2502 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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2
Analyses on Cleanroom-Free Performance and Transistor Manufacturing Cycle Time of Minimal Fab
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Analyses on Cleanroom-Free Performance and Transistor Manufacturing Cycle Time of Minimal Fab

Khumpuang, Sommawan ; Imura, Fumito ; Hara, Shiro

IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 2015-11, Vol.28 (4), p.551-556 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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3
Applications of the Acoustic Method in Partial Discharge Measurement: A Review
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Applications of the Acoustic Method in Partial Discharge Measurement: A Review

Ilkhechi, Hossein Dadashi ; Samimi, Mohammad Hamed

IEEE transactions on dielectrics and electrical insulation, 2021-02, Vol.28 (1), p.42-51 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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4
Evaluation of Harmonic Signals Derived From Multiple Spatially Separated Samples for Magnetic Particle Imaging
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Evaluation of Harmonic Signals Derived From Multiple Spatially Separated Samples for Magnetic Particle Imaging

Tanaka, Seiya ; Ota, Satoshi ; Hirano, Harutoyo ; Futagawa, Masato ; Takemura, Yasushi

IEEE transactions on magnetics, 2022-08, Vol.58 (8), p.1-5

New York: IEEE

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5
Surface Charging Affecting Metal Particle Lifting Behaviors Around Epoxy Spacer of HVDC GIL/GIS
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Surface Charging Affecting Metal Particle Lifting Behaviors Around Epoxy Spacer of HVDC GIL/GIS

Li, Jin ; Wang, Yuhuai ; Dong, Jianan ; Liang, Hucheng ; Du, Boxue ; Xu, Yongsheng ; Li, Xiaolin

IEEE transactions on dielectrics and electrical insulation, 2022-08, Vol.29 (4), p.1546-1552 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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6
Microstructure Characterization of Nb3Sn Wires With Nanoprecipitate Artificial Pinning Centers Using Synchrotron High-Energy X-Rays
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Microstructure Characterization of Nb3Sn Wires With Nanoprecipitate Artificial Pinning Centers Using Synchrotron High-Energy X-Rays

Croteau, Jean-Francois ; Baskys, Algirdas ; Naus, Michael ; Park, Jun-Sang ; Kenesei, Peter ; Xu, Xingchen ; Wan, Fang ; Pong, Ian

IEEE transactions on applied superconductivity, 2024-08, Vol.34 (5), p.1-5 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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7
Cuckoo Search and Particle Filter-Based Inversing Approach to Estimating Defects via Magnetic Flux Leakage Signals
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Cuckoo Search and Particle Filter-Based Inversing Approach to Estimating Defects via Magnetic Flux Leakage Signals

Wenhua Han ; Jun Xu ; Mengchu Zhou ; Guiyun Tian ; Ping Wang ; Xiaohui Shen ; Hou, Edwin

IEEE transactions on magnetics, 2016-04, Vol.52 (4), p.1-11

New York: IEEE

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8
Error Constraint Enhanced Particle Filter Using Quantum Particle Swarm Optimization
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Error Constraint Enhanced Particle Filter Using Quantum Particle Swarm Optimization

Wan, Jiawang ; Xu, Cheng ; Qiao, Yidan ; Zhang, Xiaotong

IEEE sensors journal, 2021-11, Vol.21 (21), p.24431-24439 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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9
Effect of Operation Pressure on the Response of ePNC Particle Number Concentration Sensor
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Effect of Operation Pressure on the Response of ePNC Particle Number Concentration Sensor

Laakkonen, Elmeri ; Arffman, Anssi ; Rostedt, Antti ; Keskinen, Jorma

IEEE sensors journal, 2024-01, Vol.24 (1), p.798-805 [Periódico revisado por pares]

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10
Attitude Estimation Using Biased Gyro and Vector Measurements With Time-Varying Reference Vectors
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Attitude Estimation Using Biased Gyro and Vector Measurements With Time-Varying Reference Vectors

Grip, H. F. ; Fossen, T. I. ; Johansen, T. A. ; Saberi, A.

IEEE transactions on automatic control, 2012-05, Vol.57 (5), p.1332-1338 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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