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Refinado por: data de publicação: 2004Até2011 remover assunto: Epitaxy remover
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Growth of ternary ZnCdSe nanowires and the fabrication of ZnCdSe nanowire photodetectors

Chang, S.J ; Hsiao, C.H ; Lan, B.W ; Hung, S.C ; Huang, B.R ; Young, S.J ; Cheng, Y.C ; Chih, S.H

Superlattices and Microstructures, 2010, Vol.48(1), pp.50-57 [Periódico revisado por pares]

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Epitaxial growth of Al–Cr–N thin films on MgO(111)

Willmann, H ; Beckers, M ; Birch, J ; Mayrhofer, P.H ; Mitterer, C ; Hultman, L

Thin Solid Films, 2008, Vol.517(2), pp.598-602 [Periódico revisado por pares]

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3
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Square ZnO nano-column and its thermal evolution

Huang, BinWang ; Zhan, HuaHan ; Wu, YaPing ; Chen, XiaoHang ; Kang, JunYong

Science China Technological Sciences, 2010, Vol.53(2), pp.309-312 [Periódico revisado por pares]

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Artigo
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Study of InN/GaN interfaces using molecular dynamics

Kioseoglou, J. ; Kalessaki, E. ; Dimitrakopulos, G. ; Komninou, Ph. ; Karakostas, Th.

Journal of Materials Science, 2008, Vol.43(11), pp.3982-3988 [Periódico revisado por pares]

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Investigation of wurtzite (B,Al)N films prepared on polycrystalline diamond

Song, J.H ; Huang, J.L ; Lu, H.H ; Sung, J.C

Thin Solid Films, 2007, Vol.516(2), pp.223-227 [Periódico revisado por pares]

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Geometrical Characteristics and Surface Polarity of Inclined Crystallographic Planes of the Wurtzite and Zincblende Structures

Masui, Hisashi ; Cruz, Samantha ; Nakamura, Shuji ; DenBaars, Steven

Journal of Electronic Materials, 2009, Vol.38(6), pp.756-760 [Periódico revisado por pares]

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Artigo
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Room-temperature epitaxial growth and in situ CAICISS surface analysis of wurtzite-type thin films

Sasaki, Atsushi ; Hara, Wakana ; Matsuda, Akifumi ; Akiba, Shusaku ; Tateda, Norihiro ; Yoshimoto, Mamoru

Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, B, 2005, Vol.232(1), pp.305-311 [Periódico revisado por pares]

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Artigo
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Molecular beam epitaxial growth and characterization of Cd-based II–VI wide-bandgap compounds on Si substrates

Brill, G. ; Chen, Y. ; Amirtharaj, P. ; Sarney, W. ; Chandler-Horowitz, D. ; Dhar, N.

Journal of Electronic Materials, 2005, Vol.34(5), pp.655-661 [Periódico revisado por pares]

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