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Subjective assessment of computer-simulated telephone calling signals
Subjective assessment of computer-simulated telephone calling signals
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Subjective assessment of computer-simulated telephone calling signals

Bricker, P. ; Flanagan, J.

IEEE transactions on audio and electroacoustics, 1970-03, Vol.18 (1), p.19-25

IEEE

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2
Wiring telephone apparatus from computer-generated speech
Wiring telephone apparatus from computer-generated speech
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Wiring telephone apparatus from computer-generated speech

Flanagan, J. L. ; Rabiner, L. R. ; Schafer, R. W. ; Denman, J. D.

Bell System Technical Journal, 1972-02, Vol.51 (2), p.391-397 [Periódico revisado por pares]

Oxford, UK: American Telephone and Telegraph Company

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3
ATTACKING VOLTAGE FLUCTUATIONS WITH SOLID STATE ELECTRONICS
ATTACKING VOLTAGE FLUCTUATIONS WITH SOLID STATE ELECTRONICS
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ATTACKING VOLTAGE FLUCTUATIONS WITH SOLID STATE ELECTRONICS

FLANAGAN, DAVID B.

Naval engineers journal, 1974-02, Vol.86 (1), p.77-83 [Periódico revisado por pares]

Oxford, UK: Blackwell Publishing Ltd

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4
Weak chemisorption of hydrogen by platinum black
Weak chemisorption of hydrogen by platinum black
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Weak chemisorption of hydrogen by platinum black

Clewley, J.D. ; Lynch, J.F. ; Flanagan, Ted B.

Journal of catalysis, 1975-01, Vol.36 (3), p.291-304 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Inc

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5
Transient Response of MOS Capacitors to High-Energy Electron Irradiation
Transient Response of MOS Capacitors to High-Energy Electron Irradiation
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Transient Response of MOS Capacitors to High-Energy Electron Irradiation

Snowden, D. P. ; Flanagan, T. M.

IEEE transactions on nuclear science, 1975-12, Vol.22 (6), p.2516-2521 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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6
Safety Analysis Report for Packaging (SARP): USA/5790/BLF (ERDA-AL) and USA/5791/BLF (ERDA-AL)
Safety Analysis Report for Packaging (SARP): USA/5790/BLF (ERDA-AL) and USA/5791/BLF (ERDA-AL)
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Safety Analysis Report for Packaging (SARP): USA/5790/BLF (ERDA-AL) and USA/5791/BLF (ERDA-AL)

Griffin, J. F ; Bertram, R. E ; Blauvelt, R. K ; Edling, D. A ; Flanagan, T. M ; Peterson, J. B ; Prosser, D. L

Mound Laboratory 1976

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7
Oak Ridge Tokamak Experimental Power Reactor study, 1976. Part I. EPR summary
Oak Ridge Tokamak Experimental Power Reactor study, 1976. Part I. EPR summary
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Oak Ridge Tokamak Experimental Power Reactor study, 1976. Part I. EPR summary

Roberts, M ; McAlees, D. G ; Shannon, T. E ; Flanagan, C. A ; Lue, J. W

Oak Ridge National Laboratory 1977

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Automatic Dissolved Oxygen Control
Automatic Dissolved Oxygen Control
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Automatic Dissolved Oxygen Control

Flanagan, Michael J. ; Roesler, Joseph F. ; Bracken, Brian D.

Journal of the Environmental Engineering Division, 1977-08, Vol.103 (4), p.707-722

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9
Safety Analysis Report for Packaging (SARP): USA/9507/BLF (ERDA--AL), Model AL-M1. [Configurations 1, 3, and 5]
Safety Analysis Report for Packaging (SARP): USA/9507/BLF (ERDA--AL), Model AL-M1. [Configurations 1, 3, and 5]
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Safety Analysis Report for Packaging (SARP): USA/9507/BLF (ERDA--AL), Model AL-M1. [Configurations 1, 3, and 5]

Watkins, R. A ; Bertram, R. E ; Blauvelt, R. K ; Edling, D. A ; Flanagan, T. M ; Griffin, J. F ; Rhinehammer, T. B

Mound Lab., Miamisburg, OH (USA) 1977

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10
Low-temperature absorption equilibrium and chemisorption in the LaNi5(Activated)/H2 system
Low-temperature absorption equilibrium and chemisorption in the LaNi5(Activated)/H2 system
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Low-temperature absorption equilibrium and chemisorption in the LaNi5(Activated)/H2 system

TANAKA, S

Journal of catalysis, 1978-01, Vol.51 (1), p.9-17 [Periódico revisado por pares]

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