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Measurement and reconstruction of the leaflet geometry for a pericardial artificial heart valve
Measurement and reconstruction of the leaflet geometry for a pericardial artificial heart valve
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Measurement and reconstruction of the leaflet geometry for a pericardial artificial heart valve

Jiang, Hongjun ; Campbell, Gord ; Xi, Fengfeng

Medical engineering & physics, 2005-03, Vol.27 (2), p.175-180 [Periódico revisado por pares]

England: Elsevier Ltd

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Power-Aware SE Analysis of Different FF Designs at the 14-/16-nm Bulk FinFET CMOS Technology Node
Power-Aware SE Analysis of Different FF Designs at the 14-/16-nm Bulk FinFET CMOS Technology Node
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Power-Aware SE Analysis of Different FF Designs at the 14-/16-nm Bulk FinFET CMOS Technology Node

Jiang, H. ; Zhang, H. ; Chatterjee, I. ; Kauppila, J. S. ; Bhuva, B. L. ; Massengill, L. W.

IEEE transactions on nuclear science, 2018-08, Vol.65 (8), p.1866-1871 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Analysis and Compensation of Delays in FF H1 Fieldbus Control Loop Using Model Predictive Control
Analysis and Compensation of Delays in FF H1 Fieldbus Control Loop Using Model Predictive Control
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Analysis and Compensation of Delays in FF H1 Fieldbus Control Loop Using Model Predictive Control

Yu, Xiang ; Jiang, Jin

IEEE transactions on instrumentation and measurement, 2014-10, Vol.63 (10), p.2432-2446 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Numerical Green's Function-Based Method for Modeling Radiated Emission From PCBs in Shielding Enclosures
Numerical Green's Function-Based Method for Modeling Radiated Emission From PCBs in Shielding Enclosures
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Numerical Green's Function-Based Method for Modeling Radiated Emission From PCBs in Shielding Enclosures

Wang, Zi An ; Jiang, Li Jun ; Mao, Jun Fa ; Li, Ping

IEEE transactions on microwave theory and techniques, 2021-12, Vol.69 (12), p.5250-5258 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Voltage-Controlled Spin-Orbit-Torque-Based Nonvolatile Flip-Flop Designs for Ultra-Low-Power Applications
Voltage-Controlled Spin-Orbit-Torque-Based Nonvolatile Flip-Flop Designs for Ultra-Low-Power Applications
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Voltage-Controlled Spin-Orbit-Torque-Based Nonvolatile Flip-Flop Designs for Ultra-Low-Power Applications

Liu, Xiao ; Deng, Erya ; Luo, Lichuan ; Jiang, Linjun ; Zhang, Youguang ; Liu, Dijun ; Pan, Biao ; Kang, Wang

Applied sciences, 2023-10, Vol.13 (20), p.11316 [Periódico revisado por pares]

Basel: MDPI AG

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Feedforward Control Strategies for Rapid Phase Adjustment of Superconducting Cavities
Feedforward Control Strategies for Rapid Phase Adjustment of Superconducting Cavities
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Feedforward Control Strategies for Rapid Phase Adjustment of Superconducting Cavities

Jiang, Guodong ; Xu, Chengye ; Qiu, Feng ; Shi, Longbo ; Xue, Zonghen ; Zhu, Zhenglong ; Ma, Jinying ; Jin, Kean ; Tao, Yue ; Gao, Zheng ; Yang, Ziqin ; Sun, Liepeng ; Wang, Zhijun ; Huang, Guirong ; He, Yuan

IEEE transactions on nuclear science, 2023-02, Vol.70 (2), p.93-104 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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7
The Migration of Corner Separation Flow in Multi-Channel Compressor Cascades at High Attack Angle
The Migration of Corner Separation Flow in Multi-Channel Compressor Cascades at High Attack Angle
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The Migration of Corner Separation Flow in Multi-Channel Compressor Cascades at High Attack Angle

Duan, Yu ; Jiang, Bin ; Zheng, Qun ; Zhao, Weicheng ; Chen, Zhongliang ; Ma, Yuchen ; Zhang, Hai

International journal of turbo & jet-engines, 2022-08, Vol.39 (3), p.265-276 [Periódico revisado por pares]

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8
Effects of Total-Ionizing-Dose Irradiation on Single-Event Response for Flip-Flop Designs at a 14-/16-nm Bulk FinFET Technology Node
Effects of Total-Ionizing-Dose Irradiation on Single-Event Response for Flip-Flop Designs at a 14-/16-nm Bulk FinFET Technology Node
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Effects of Total-Ionizing-Dose Irradiation on Single-Event Response for Flip-Flop Designs at a 14-/16-nm Bulk FinFET Technology Node

Zhang, H. ; Jiang, H. ; Fan, X. ; Kauppila, J. S. ; Chatterjee, I. ; Bhuva, B. L. ; Massengill, L. W.

IEEE transactions on nuclear science, 2018-08, Vol.65 (8), p.1928-1934 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Frequency Dependence of Heavy-Ion-Induced Single-Event Responses of Flip-Flops in a 16-nm Bulk FinFET Technology
Frequency Dependence of Heavy-Ion-Induced Single-Event Responses of Flip-Flops in a 16-nm Bulk FinFET Technology
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Frequency Dependence of Heavy-Ion-Induced Single-Event Responses of Flip-Flops in a 16-nm Bulk FinFET Technology

Zhang, H. ; Jiang, H. ; Bhuva, B. L. ; Kauppila, J. S. ; Holman, W. T. ; Massengill, L. W.

IEEE transactions on nuclear science, 2018-01, Vol.65 (1), p.413-417 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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10
Removal of Antibiotic Florfenicol by Sulfide-Modified Nanoscale Zero-Valent Iron
Removal of Antibiotic Florfenicol by Sulfide-Modified Nanoscale Zero-Valent Iron
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Removal of Antibiotic Florfenicol by Sulfide-Modified Nanoscale Zero-Valent Iron

Cao, Zhen ; Liu, Xue ; Xu, Jiang ; Zhang, Jing ; Yang, Yi ; Zhou, Junliang ; Xu, Xinhua ; Lowry, Gregory V

Environmental science & technology, 2017-10, Vol.51 (19), p.11269-11277 [Periódico revisado por pares]

United States: American Chemical Society

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