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1
Efficient Evaluation of EM Radiation Associated With Information Leakage From Cryptographic Devices
Efficient Evaluation of EM Radiation Associated With Information Leakage From Cryptographic Devices
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Efficient Evaluation of EM Radiation Associated With Information Leakage From Cryptographic Devices

Hayashi, Y. ; Homma, N. ; Mizuki, T. ; Shimada, H. ; Aoki, T. ; Sone, H. ; Sauvage, L. ; Danger, J. L.

IEEE transactions on electromagnetic compatibility, 2013-06, Vol.55 (3), p.555-563 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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2
Advanced Analysis of Faults Injected Through Conducted Intentional Electromagnetic Interferences
Advanced Analysis of Faults Injected Through Conducted Intentional Electromagnetic Interferences
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Advanced Analysis of Faults Injected Through Conducted Intentional Electromagnetic Interferences

Sauvage, L. ; Danger, J. ; Guilley, S. ; Homma, N. ; Hayashi, Y-I

IEEE transactions on electromagnetic compatibility, 2013-06, Vol.55 (3), p.589-596 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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3
A fault model for conducted intentional electromagnetic interferences
A fault model for conducted intentional electromagnetic interferences
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

A fault model for conducted intentional electromagnetic interferences

Sauvage, L. ; Guilley, S. ; Danger, J. ; Homma, N. ; Hayashi, Y.

2012 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility, 2012, p.788-793

IEEE

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4
Multiple and Reproducible Fault Models on Micro-controller using Electromagnetic Fault Injection
Multiple and Reproducible Fault Models on Micro-controller using Electromagnetic Fault Injection
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Multiple and Reproducible Fault Models on Micro-controller using Electromagnetic Fault Injection

Khuat, Vanthanh ; Trabelsi, Oualid ; Sauvage, Laurent ; Danger, Jean-Luc

2021 IEEE International Joint EMC/SI/PI and EMC Europe Symposium, 2021, p.667-672

IEEE

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5
Efficient mapping of EM radiation associated with information leakage for cryptographic devices
Efficient mapping of EM radiation associated with information leakage for cryptographic devices
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Efficient mapping of EM radiation associated with information leakage for cryptographic devices

Shimada, H. ; Hayashi, Yu-ichi ; Homma, N. ; Mizuki, T. ; Aoki, T. ; Sone, H. ; Sauvage, L. ; Danger, Jean-Luc

2012 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility, 2012, p.794-799

IEEE

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