A comparison of methods to harmonize cortical thickness measurements across scanners and sites

Sun, Delin ; Rakesh, Gopalkumar ; Haswell, Courtney C. ; Logue, Mark ; Baird, C. Lexi ; O'Leary, Erin N. ; Cotton, Andrew S. ; Xie, Hong ; Tamburrino, Marijo ; Chen, Tian ; Dennis, Emily L. ; Jahanshad, Neda ; Salminen, Lauren E. ; Thomopoulos, Sophia I. ; Rashid, Faisal ; Ching, Christopher R.K. ; Koch, Saskia B.J. ; Frijling, Jessie L. ; Nawijn, Laura ; van Zuiden, Mirjam ; Zhu, Xi ; Suarez-Jimenez, Benjamin ; Sierk, Anika ; Walter, Henrik ; Manthey, Antje ; Stevens, Jennifer S. ; Fani, Negar ; van Rooij, Sanne J.H. ; Stein, Murray ; Bomyea, Jessica ; Koerte, Inga K. ; Choi, Kyle ; van der Werff, Steven J.A. ; Vermeiren, Robert R.J.M. ; Herzog, Julia ; Lebois, Lauren A.M. ; Baker, Justin T. ; Olson, Elizabeth A. ; Straube, Thomas ; Korgaonkar, Mayuresh S. ; Andrew, Elpiniki ; Zhu, Ye ; Li, Gen ; Ipser, Jonathan ; Hudson, Anna R. ; Peverill, Matthew ; Sambrook, Kelly ; Gordon, Evan ; Baugh, Lee ; Forster, Gina ; Simons, Raluca M. ; Simons, Jeffrey S. ; Magnotta, Vincent ; Maron-Katz, Adi ; du Plessis, Stefan ; Disner, Seth G. ; Davenport, Nicholas ; Grupe, Daniel W. ; Nitschke, Jack B. ; deRoon-Cassini, Terri A. ; Fitzgerald, Jacklynn M. ; Krystal, John H. ; Levy, Ifat ; Olff, Miranda ; Veltman, Dick J. ; Wang, Li ; Neria, Yuval ; De Bellis, Michael D. ; Jovanovic, Tanja ; Daniels, Judith K. ; Shenton, Martha ; van de Wee, Nic J.A. ; Schmahl, Christian ; Kaufman, Milissa L. ; Rosso, Isabelle M. ; Sponheim, Scott R. ; Hofmann, David Bernd ; Bryant, Richard A. ; Fercho, Kelene A. ; Stein, Dan J. ; Mueller, Sven C. ; Hosseini, Bobak ; Phan, K. Luan ; McLaughlin, Katie A. ; Davidson, Richard J. ; Larson, Christine L. ; May, Geoffrey ; Nelson, Steven M. ; Abdallah, Chadi G. ; Gomaa, Hassaan ; Etkin, Amit ; Seedat, Soraya ; Harpaz-Rotem, Ilan ; Liberzon, Israel ; van Erp, Theo G.M. ; Quidé, Yann ; Wang, Xin ; Thompson, Paul M. ; Morey, Rajendra A.

NeuroImage (Orlando, Fla.), 2022-11, Vol.261, p.119509-119509, Article 119509 [Periódico revisado por pares]

United States: Elsevier Inc

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