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An Exploratory Study of the Relationship Between Software Test Smells and Fault-Proneness
An Exploratory Study of the Relationship Between Software Test Smells and Fault-Proneness
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An Exploratory Study of the Relationship Between Software Test Smells and Fault-Proneness

Qusef, Abdallah ; Elish, Mahmoud O. ; Binkley, David

IEEE access, 2019, Vol.7, p.139526-139536 [Periódico revisado por pares]

Piscataway: IEEE

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2
An empirical study of identifier splitting techniques
An empirical study of identifier splitting techniques
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An empirical study of identifier splitting techniques

Hill, Emily ; Binkley, David ; Lawrie, Dawn ; Pollock, Lori ; Vijay-Shanker, K.

Empirical software engineering : an international journal, 2014-12, Vol.19 (6), p.1754-1780 [Periódico revisado por pares]

Boston: Springer US

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3
FlagRemover: A testability transformation for transforming loop-assigned flags
FlagRemover: A testability transformation for transforming loop-assigned flags
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FlagRemover: A testability transformation for transforming loop-assigned flags

Binkley, David ; Harman, Mark ; Lakhotia, Kiran

ACM transactions on software engineering and methodology, 2011-08, Vol.20 (3), p.1-33 [Periódico revisado por pares]

ACM

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4
A 100-ps time-resolution CMOS time-to-digital converter for positron emission tomography imaging applications
A 100-ps time-resolution CMOS time-to-digital converter for positron emission tomography imaging applications
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A 100-ps time-resolution CMOS time-to-digital converter for positron emission tomography imaging applications

Swann, B.K. ; Blalock, B.J. ; Clonts, L.G. ; Binkley, D.M. ; Rochelle, J.M. ; Breeding, E. ; Baldwin, K.M.

IEEE journal of solid-state circuits, 2004-11, Vol.39 (11), p.1839-1852 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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5
An empirical study of slice-based cohesion and coupling metrics
An empirical study of slice-based cohesion and coupling metrics
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An empirical study of slice-based cohesion and coupling metrics

Meyers, Timothy ; Binkley, David

ACM transactions on software engineering and methodology, 2007-12, Vol.17 (1), p.1-27 [Periódico revisado por pares]

ACM

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An empirical study of static program slice size
An empirical study of static program slice size
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An empirical study of static program slice size

Binkley, David ; Gold, Nicolas ; Harman, Mark

ACM transactions on software engineering and methodology, 2007-04, Vol.16 (2), p.8-es [Periódico revisado por pares]

ACM

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Concept Learning versus Problem Solving: Evaluating a Threat to the Validity of a Particulate Gas Law Question
Concept Learning versus Problem Solving: Evaluating a Threat to the Validity of a Particulate Gas Law Question
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Concept Learning versus Problem Solving: Evaluating a Threat to the Validity of a Particulate Gas Law Question

Sanger, Michael J ; Vaughn, C. Kevin ; Binkley, David A

Journal of chemical education, 2013-06, Vol.90 (6), p.700-709 [Periódico revisado por pares]

Easton: American Chemical Society and Division of Chemical Education, Inc

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8
Featherweight assisted vulnerability discovery
Featherweight assisted vulnerability discovery
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Featherweight assisted vulnerability discovery

Binkley, David ; Moonen, Leon ; Isaacman, Sibren

Information and software technology, 2022-06, Vol.146, p.106844, Article 106844 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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9
Evaluating test-to-code traceability recovery methods through controlled experiments
Evaluating test-to-code traceability recovery methods through controlled experiments
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Evaluating test-to-code traceability recovery methods through controlled experiments

Qusef, Abdallah ; Bavota, Gabriele ; Oliveto, Rocco ; Lucia, Andrea De ; Binkley, David

Journal of software : evolution and process, 2013-11, Vol.25 (11), p.1167-1191 [Periódico revisado por pares]

Chichester: Blackwell Publishing Ltd

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10
An empirical evaluation of quasi-static executable slices
An empirical evaluation of quasi-static executable slices
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An empirical evaluation of quasi-static executable slices

Stiévenart, Quentin ; Binkley, David ; De Roover, Coen

The Journal of systems and software, 2023-06, Vol.200, p.111666, Article 111666 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Inc

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