Bozzo, E ; Santangelo, A ; Wilms, J ; Albertus, C ; Alford, M ; Andersson, N ; Antonelli, A ; Artigue, R ; Artigues, B ; Baldazzi, G ; Balman, S ; Belloni, T ; Bertuccio, G ; Bonnet Bidaud, J.-M ; Boutloukos, S ; Braga, J ; Brown, E ; Bursa, M ; Campana, R ; Cavazzuti, E ; Cole, R ; de Luca, A ; de Pasquale, M ; Di Cosimo, S ; Emmanoulopoulos, D ; Esposito, P ; Ferrigno, C ; Finger, M ; Galvez Sanchez, J. L ; Garcia-Berro, E ; Giovannini, G ; Gogus, E ; Gualtieri, L ; Hebeler, K ; Hudec, R ; Johannsen, T ; Keek, L ; Klochkov, D ; Kuiper, L. M ; Labanti, C ; Laubert, P. P ; Lin, D ; Longo, F ; Mahmoodifar, S ; Maier, D ; Matt, G ; Melatos, A ; Migliari, S ; Miller, M. C ; Miller, J. M ; Motta, S ; Mulačová, J ; Muleri, F ; Norton, A. J ; Nowak, M ; Orienti, M ; Orlandini, M ; Osborne, J. P ; Patruno, A ; Perez, M. A ; Petracek, V ; Portell, J ; Poutanen, J ; Le Provost, P ; Ramon, P ; Ramsay, G ; Rachevski, A ; Remillard, R ; Ribo, M ; de la Rie, R ; Riggio, A ; Rohlfs, R ; Rousseau, A ; Sabau-Graziati, L ; Salvaterra, R ; Schanne, S ; Schwenk, A ; Seyler, J.-Y ; Shearer, A ; Smith, D. M ; Spencer, A ; Stergioulas, N ; Stratta, G ; Stuchlik, Z ; Suchy, S ; Sulemainov, V ; Takahashi, T ; Tolos, L ; Torrejon, J. M ; Uter, P ; Varniere, P ; Vercellone, S ; Wawrzaszek, R ; Weinberg, N ; Wheatley, P ; Wilson-Hodge, C. A ; Winter, B ; Zdziarski, A ; Ayre, M ; Lumb, D Bautz, Mark ; Takahashi, Tadayuki ; den Herder, Jan-Willem A
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2014, Vol.9144, p.91442T-91442T-20