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Analysis of Antenna Performance Degradation due to VCO Source Using Active S-Parameters
Analysis of Antenna Performance Degradation due to VCO Source Using Active S-Parameters
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Analysis of Antenna Performance Degradation due to VCO Source Using Active S-Parameters

Lee, Hosang ; Yousaf, Jawad ; Kim, Jeongeun ; Nah, Wansoo ; Youn, Jinsung ; Lee, Daehee ; Hwang, Chanseok

2018 International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC EUROPE), 2018, p.951-956

IEEE

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2
On-Wafer CPW Standards for S-Parameter Measurements of Balanced Circuits Up to 40 GHz
On-Wafer CPW Standards for S-Parameter Measurements of Balanced Circuits Up to 40 GHz
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On-Wafer CPW Standards for S-Parameter Measurements of Balanced Circuits Up to 40 GHz

Pham, Thi Dao ; Allal, Djamel ; Ziade, Francois ; Bergeaultt, Eric

2018 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2018), 2018, p.1-2

IEEE

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3
A black-box measurement-based modeling method for the RF emission and immunity behavior of ICs
A black-box measurement-based modeling method for the RF emission and immunity behavior of ICs
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A black-box measurement-based modeling method for the RF emission and immunity behavior of ICs

Pues, Hugo ; Gazda, Celina

2015 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC), 2015, p.1002-1006

IEEE

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4
Study of metamaterial with a limited number of the unit cells
Study of metamaterial with a limited number of the unit cells
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Study of metamaterial with a limited number of the unit cells

AIP Conference Proceedings, 2023, Vol.2623 (1) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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5
A fixed probe position self-calibration algorithm of broadband on-wafer scattering parameter measurements without impedance-standard substrate for RFIC production test applications
A fixed probe position self-calibration algorithm of broadband on-wafer scattering parameter measurements without impedance-standard substrate for RFIC production test applications
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A fixed probe position self-calibration algorithm of broadband on-wafer scattering parameter measurements without impedance-standard substrate for RFIC production test applications

Chien-Chang Huang

2016 IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS), 2016, p.1-3

IEEE

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6
The characteristic of metamaterial with different conductivity of unit cell
The characteristic of metamaterial with different conductivity of unit cell
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

The characteristic of metamaterial with different conductivity of unit cell

AIP Conference Proceedings, 2023, Vol.2623 (1) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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7
Microwave response of Rare-Earth oxide (Y2O3) thin film in x-band
Microwave response of Rare-Earth oxide (Y2O3) thin film in x-band
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Microwave response of Rare-Earth oxide (Y2O3) thin film in x-band

AIP Conference Proceedings, 2023, Vol.2740 (1) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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8
Generalized solving scheme of line-series-shunt type calibration for broadband on-wafer scattering parameter measurements
Generalized solving scheme of line-series-shunt type calibration for broadband on-wafer scattering parameter measurements
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Generalized solving scheme of line-series-shunt type calibration for broadband on-wafer scattering parameter measurements

Huang, Chien-Chang ; Yu-Chuan Chen

2012 IEEE/MTT-S International Microwave Symposium Digest, 2012, p.1-3

IEEE

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9
A Small Open TEM Chamber Design
A Small Open TEM Chamber Design
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

A Small Open TEM Chamber Design

Dong, Jiawang ; Zhou, Xing ; Nie, Yaning

2023 IEEE 7th International Symposium on Electromagnetic Compatibility (ISEMC), 2023, p.1-4

IEEE

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10
Conversion Rules Between Nonlinear Large Signal S-parameters and T-parameters for Linear Two-Port Network
Conversion Rules Between Nonlinear Large Signal S-parameters and T-parameters for Linear Two-Port Network
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Conversion Rules Between Nonlinear Large Signal S-parameters and T-parameters for Linear Two-Port Network

Atkishkin, Sergei

2020 International Conference on Actual Problems of Electron Devices Engineering (APEDE), 2020, p.134-137

IEEE

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