Angular dependence of pp spin correlation and rescattering observables between 1.80 and 2.10 GeV
Allgower, C. E. ; Ball, J. ; Barabash, L. S. ; Beddo, M. ; Bedfer, Y. ; Grosnick, D. ; Kasprzyk, T. E. ; Lopiano, D. ; Spinka, H. M. ; High Energy Physics ; Laboratoire National Saturne
United States: edited by A. V. Efremov, O. V. Selyugin, pp. 289-95 1997
Overcoming weak intrinsic depolarizing resonances with energy-jump
Huang, H. ; Ahrens, L. ; Alessi, J. G. ; Bai, M. ; Brown, K. A. ; Krueger, K. ; Spinka, H. M. ; Underwood, D. G. ; Yokosawa, A. Y. ; Luccio, A. U. ; Makdisi, Y. I. ; Mariam, F. ; Okamura, M. ; Ratner ; High Energy Physics ; BNL ; Indiana Univ
United States: Proceedings Citation: edited by M. Comyn, IEEE : pp. 1460-62 1998
Direct reconstruction of np elastic scattering amplitudes between 0.80 and 1.1 GeV
Ball, J. ; Bystricky, J. ; Fontaine, J.-M. ; Gaillard, G. ; Hess, R. ; Janout, Z. ; Khachaturov, B. A. ; Kunne, R. ; Lac, C. D. ; Lechanoine-Leluc, C. ; Lehar, F. ; de Lesquen, A. ; Lopiano, D. ; Perrot-Kunne, F. ; Rapin, D. ; van Rossum, L. ; Schmitt, H. ; Spinka, H. M. ; High Energy Physics ; CEA /Saclay ; Univ. of Geneva ; Czech Technical Univ ; JINR ; Inst. de Physique ; Freiburg Univ
United States: SPIN 98, edited by N. E. Tyurin, et al., World Scientific; pp. 359-61 1998
Focal Plane Detectors for Dark Energy Camera (DECam)
ESTRADA, J ; ALVAREZ, R ; DERYLO, G ; DIEHL, H. T ; FLAUGHER, B ; HAO, J ; HOLLAND, S ; HUFFMAN, D ; KARLINER, I ; KUBIK, D ; KUHLMANN, S ; KUK, K ; ABBOTT, T ; LIN, H ; ROE, N ; SCARPINE, V ; SCHMIDT, R ; SCHULTZ, K ; SHAW, T ; SIMAITIS, V ; SPINKA, H ; STUERMER, W ; TUCKER, D ; ANNIS, J ; WALKER, A ; WESTER, W ; BONATI, M ; BUCKLEY-GEER, E ; CAMPA, J ; CEASE, H ; CHAPPA, S ; DEPOY, D
Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering, 2010, Vol.7735
The dark energy survey and operations: years 1 to 3
Diehl, H. T ; Neilsen, E ; Gruendl, R ; Aleksić, J ; Allam, S ; Annis, J ; Balbinot, E ; Baumer, M ; Beaufore, L ; Bechtol, K ; Bernstein, G ; Brout, D ; Bruderer, C ; Capozzi, D ; Carnero Rosell, A ; Castander, F. J ; Cawthon, R ; Chang, C ; Clerkin, L ; Covarrubias, R ; Cuhna, C ; D'Andrea, C ; da Costa, L ; Das, R ; Davis, C ; Dietrich, J ; Drlica-Wagner, A ; Elliott, A ; Eifler, T. F ; Etherington, J ; Flaugher, B. L ; Fausti Neto, A ; Fernández, M. G ; Furlanetto, C ; Gangkofner, D ; Gerdes, D. W ; Goldstein, D. A ; Grabowski, K ; Gupta, R. R ; Hamilton, S ; Head, H ; Hollowood, D ; Honscheid, K ; Johnson, M ; Kacprzac, T ; Kent, S ; Kessler, R ; Kim, A ; Krause, E ; Krawiec, C. I ; Kremin, A ; Kron, R ; Kuhlmann, S ; Kuropatkin, N ; Lahav, O ; Lasker, J ; Luque, E ; Maccrann, N ; March, M ; Marshall, J ; Morganson, E. P ; Mudd, D ; Nadolski, A ; Melchior, P ; Menanteau, F ; Nagasawa, D. Q ; Nord, B ; Old, L ; Palmese, A ; Petravick, D ; Pujol, A ; Queiroz, A. B. A ; Reil, K ; Romer, A. K ; Rosenfeld, R ; Roodman, A ; Rooney, P ; Sako, M ; Salvador, A. I ; Sánchez Álvaro, E ; Santiago, B. X ; Schooneveld, A ; Schubnell, M ; Sheldon, E ; Smith, A ; Smith, R. C ; Soares-Santos, M ; Sobreira, F ; Spinka, H ; Tie, S. S ; Tucker, D ; Vivas, K ; Walker, A. R ; Wester, W ; Wiesner, M ; Wilcox, H ; Williams, P ; Zenteno, A ; Zhang, Y ; Zhang, Z Benn, Chris R ; Seaman, Robert L ; Peck, Alison B
Automated characterization of CCD detectors for DECam
Kubik, D ; Alvarez, R ; Abbott, T ; Annis, J ; Bonati, M ; Buckley-Geer, E ; Campa, J ; Cease, H ; Chappa, S ; DePoy, D ; Derylo, G ; Diehl, H T ; Estrada, J ; Flaugher, B ; Hao, J ; Holland, S ; Huffman, D ; Karliner, I ; Kuhlmann, S ; Kuk, K ; Lin, H ; Montes, J ; Roe, N ; Scarpine, V ; Schmidt, R ; Schultz, K ; Shaw, T ; Simaitis, V ; Spinka, H ; Stuermer, W ; Tucker, D ; Walker, A ; Wester, W
Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering, 2010, Vol.7735
Status of the Dark Energy Survey Camera (DECam) Project
FLAUGHER, Brenna L ; ABBOTT, Timothy M. C ; BRIONES, Jorge ; BROOKS, David ; BUCKLEY-GEER, Elizabeth J ; CAMPA, Juila ; CARDIEL-SAS, Laia ; CASTANDER, Franciso ; CASTILLA, Javier ; CEASE, Herman ; CHAPPA, Steve ; CHI, Edward C ; ANNIS, Jim ; DA COSTA, Luis ; DEPOY, Darren L ; DERYLO, Gregory ; DE VICENTE, Juan ; DIEHL, H. Thomas ; DOEL, Peter ; ESTRADA, Juan ; EITING, Jacob ; ELLIOTT, Anne ; FINLEY, David ; ANTONIK, Michelle L ; FRIEMAN, Josh ; GAZTANAGA, Enrique ; GERDES, David ; GLADDERS, Mike ; GUARINO, V ; GUTIERREZ, G ; GRUDZINSKI, Jim ; HANLON, Bill ; JIANGANG HAO ; HOLLAND, Steve ; BAILEY, Jim ; HONSCHEID, Klaus ; HUFFMAN, Dave ; JACKSON, Cheryl ; KARLINER, Inga ; KAU, Daekwang ; KENT, Steve ; KREMPETZ, Kurt ; KRIDER, John ; KOZLOVSKY, Mark ; KUBIK, Donna ; BALLESTER, Otger ; KUEHN, Kyler W ; KUHLMANN, Stephen E ; KUK, Kevin ; LAHAV, Ofer ; LEWIS, Peter ; HUAN LIN ; LORENZON, Wolfgang ; MARSHALL, Stuart ; MARTINEZ, Gustavo ; MCKAY, Timothy ; BERNSTEIN, Joseph P ; BERNSTEIN, Rebbeca ; BONATI, Marco ; BREMER, Gale
Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering, 2010, Vol.7735
Active learning with deep Bayesian neural network for laser control
Galvin, Thomas C ; Herriot, Sandrine I ; Ng, Brenda ; Williams, Wade H ; Talathi, Sachin S ; Spinka, Thomas ; Sistrunk, Emily F ; Siders, Craig W ; Haefner, Constantin L Márquez, Andrés ; Awwal, Abdul A. S ; Diaz-Ramirez, Víctor H ; Iftekharuddin, Khan M ; García Vázquez, Mireya
Precise Measurement of the Absolute Fluorescence Yield
Ave, M. ; Daumiller, K. ; Keilhauer, B. ; Klages, H. ; Salamida, F. ; Smida, R. ; Bohacova, M. ; Nozka, L. ; Palatka, M. ; Ridky, J. ; Schovanek, P. ; Di Carlo, P. ; Iarlori, M. ; Petrera, S. ; Rizi, V. ; Di Giulio, C. ; Verzi, V. ; San Luis, P. Facal ; Monasor, M. ; Privitera, P.
AIP conference proceedings, 2011, Vol.1367 (1)
[Periódico revisado por pares]
Página Inicial
RSS
Feed
Políticas
Fale Conosco
Logos de Redes Sociais: 