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1
Transistores sus principios y circuitos
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Transistores sus principios y circuitos

Richard F. Shea

México Compañía Editorial Continental 1959

Localização: IAG - Inst. Ast. Geo. Ciên. Atmosféricas    (621.38 She T )(Acessar)

2
El transistor de efecto de campo y sus aplicaciones
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Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

El transistor de efecto de campo y sus aplicaciones

William Gosling William Gosling

Madrid Paraninfo 1967

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (621.381528 G676t )(Acessar)

3
Parameter Extraction from a Resistive Load Inverter Circuit Using Supervised Learning Methods
Parameter Extraction from a Resistive Load Inverter Circuit Using Supervised Learning Methods
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Parameter Extraction from a Resistive Load Inverter Circuit Using Supervised Learning Methods

Valdes Garcia, Roberto Carlos ; Garcia Lamont, Farid ; Garcia Lozano, Rodolfo Zola ; Lopez Chau, Asdrubal ; Sanchez Fraga, Rodolfo ; Lastra Medina, Gonzalo

Revista IEEE América Latina, 2023-05, Vol.21 (5), p.681-689

Los Alamitos: IEEE

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4
Early fault detection in SiC-MOSFET with application in boost converter/Deteccion de fallas en SiC-Mosfet con aplicacion en un convertidor elevador
Early fault detection in SiC-MOSFET with application in boost converter/Deteccion de fallas en SiC-Mosfet con aplicacion en un convertidor elevador
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Early fault detection in SiC-MOSFET with application in boost converter/Deteccion de fallas en SiC-Mosfet con aplicacion en un convertidor elevador

Hernandez-Gonzalez, Leobardo ; Arvizu-Ogilvie, Climaco ; Tapia-Hernandez, Alejandro ; Ponce-Silva, Mario ; Claudio-Sanchez, Abraham ; Rodriguez-Blanco, Marco ; Aguayo-Alquicira, Jesus

Revista Facultad de Ingeniería, 2018-06 (87), p.8 [Periódico revisado por pares]

Universidad de Antioquia, Facultad de Ingenieria

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5
Study of a Novel Electronics Circuit for Detecting Faults in the IGBT
Study of a Novel Electronics Circuit for Detecting Faults in the IGBT
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Study of a Novel Electronics Circuit for Detecting Faults in the IGBT

Rodriguez Blanco, Marco Antonio ; Vazquez Perez, Amsi ; Hernandez Gonzalez, Leobardo ; Golikov, Victor ; Aguayo Alquicira, Jesus ; May Alarcon, Manuel

Revista IEEE América Latina, 2014-05, Vol.12 (3), p.402-409

Los Alamitos: IEEE

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6
Machine-Learning-Based Diagnosis of an Inverter-Fed Induction Motor
Machine-Learning-Based Diagnosis of an Inverter-Fed Induction Motor
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Machine-Learning-Based Diagnosis of an Inverter-Fed Induction Motor

Cherif, Bilal Djamal Eddine ; Chouai, Mohamed ; Seninete, Sara ; Bendiabdellah, Azeddine

Revista IEEE América Latina, 2022-06, Vol.20 (6), p.901-911

Los Alamitos: IEEE

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7
Simple and Low-Cost PLC Modem for IoT Applications
Simple and Low-Cost PLC Modem for IoT Applications
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Simple and Low-Cost PLC Modem for IoT Applications

Duarte dos Santos, Adelson ; Moreira Bacurau, Rodrigo ; Vedoveto Martins, Anderson ; Dante, Alex ; Chagas Ferreira, Elnatan

Revista IEEE América Latina, 2022-12, Vol.20 (12), p.2455-2462

Los Alamitos: IEEE

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8
Risk Factor Forecasting System for Pressure Injuries Through Artificial Neural Network
Risk Factor Forecasting System for Pressure Injuries Through Artificial Neural Network
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Risk Factor Forecasting System for Pressure Injuries Through Artificial Neural Network

Medina Pedroso, Bruno ; Sartori Guazzelli, Joao Vitor ; Pereira da Silva, Alessandro ; Matos da Silva Boschi, Silvia Regina ; Cristina Martini, Silvia ; Augusto Scardovelli, Terigi

Revista IEEE América Latina, 2022-04, Vol.20 (4), p.634-642

Los Alamitos: IEEE

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9
A Test IC for Wafer-Level Characterization of an IntraCMOS-MEMS Fabrication Process
A Test IC for Wafer-Level Characterization of an IntraCMOS-MEMS Fabrication Process
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A Test IC for Wafer-Level Characterization of an IntraCMOS-MEMS Fabrication Process

Linares Aranda, Monico ; Hernandez Martinez, Luis ; De la Hidalga Wade, Javier

Revista IEEE América Latina, 2022-01, Vol.20 (1), p.108-116

Los Alamitos: IEEE

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10
Open Transistors Fault-Tolerant Schemes of Three-Phase Dual Active Bridge DC-DC Converters
Open Transistors Fault-Tolerant Schemes of Three-Phase Dual Active Bridge DC-DC Converters
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Open Transistors Fault-Tolerant Schemes of Three-Phase Dual Active Bridge DC-DC Converters

Ochoa Sosa, Jonathan Emmanuel ; Nunez, Ruben Orlando ; Oggier, German Gustavo ; Garcia, Guillermo Oscar

Revista IEEE América Latina, 2021-03, Vol.19 (3), p.385-395

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