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Artigo
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Molecular orientation and optical luminescence properties of soluble star shaped oligothiophene molecules for organic electronic applications

Wilks, Regan G ; Chang, Gap Soo ; Kim, Kyung Hwan ; Choi, Dong Hoon ; Moewes, Alexander

Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena, 2011, Vol.184(7), pp.355-359 [Periódico revisado por pares]

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Resonant inelastic X-ray scattering of liquid water

Nilsson, Anders ; Tokushima, Takashi ; Horikawa, Yuka ; Harada, Yoshihisa ; Ljungberg, Mathias P ; Shin, Shik ; Pettersson, Lars G.M

Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena, June 2013, Vol.188, pp.84-100 [Periódico revisado por pares]

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RIXS investigations of liquids, solutions, and liquid/solid interfaces

Weinhardt, L ; Blum, M ; Fuchs, O ; Benkert, A ; Meyer, F ; Bär, M ; Denlinger, J.D ; Yang, W ; Reinert, F ; Heske, C

Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena, June 2013, Vol.188, pp.111-120 [Periódico revisado por pares]

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On the valence fluctuation in the early actinide metals

Söderlind, P ; Landa, A ; Tobin, J.G ; Allen, P ; Medling, S ; Booth, C.H ; Bauer, E.D ; Cooley, J.C ; Sokaras, D ; Weng, T.-C ; Nordlund, D

Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena, February 2016, Vol.207, pp.14-18 [Periódico revisado por pares]

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Ultrafast soft X-ray emission spectroscopy of surface adsorbates using an X-ray free electron laser

Katayama, T ; Anniyev, T ; Beye, M ; Coffee, R ; Dell’angela, M ; Föhlisch, A ; Gladh, J ; Kaya, S ; Krupin, O ; Nilsson, A ; Nordlund, D ; Schlotter, W.F ; Sellberg, J.A ; Sorgenfrei, F ; Turner, J.J ; Wurth, W ; Öström, H

Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena, April 2013, Vol.187, pp.9-14 [Periódico revisado por pares]

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Electronic structure effects in catalysis probed by X-ray and electron spectroscopy

Kaya, Sarp ; Friebel, Daniel ; Ogasawara, Hirohito ; Anniyev, Toyli ; Nilsson, Anders

Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena, October 2013, Vol.190, pp.113-124 [Periódico revisado por pares]

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Soft X-ray and electron spectroscopy to determine the electronic structure of materials for photoelectrochemical hydrogen production

Weinhardt, L ; Blum, M ; Fuchs, O ; Pookpanratana, S ; George, K ; Cole, B ; Marsen, B ; Gaillard, N ; Miller, E ; Ahn, K.-S ; Shet, S ; Yan, Y ; Al-Jassim, M.M ; Denlinger, J.D ; Yang, W ; Bär, M ; Heske, C

Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena, October 2013, Vol.190, pp.106-112 [Periódico revisado por pares]

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Polarization-dependent Ti K X-ray absorption and emission studies of Ti 2O 3 single crystal

Sato, H ; Maso, H ; Utsumi, Y ; Kurihara, H ; Mukaegawa, Y ; Tezuka, Y ; Iwazumi, T ; Iga, F ; Tsubota, M ; Namatame, H ; Taniguchi, M

Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena, 2011, Vol.184(3), pp.184-187 [Periódico revisado por pares]

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Intermetallic charge transfer and band gap of MTiO 3 (M = Mn, Fe, Co, and Ni) studied by O 1 s-edge X-ray emission spectroscopy

Agui, A ; Mizumaki, M

Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena, 2011, Vol.184(8), pp.463-467 [Periódico revisado por pares]

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XPS and depth resolved SXES study of HfO 2/Si interlayers

Filatova, E.O ; Sokolov, A.A ; Ovchinnikov, A.A ; Tveryanovich, S.Yu ; Savinov, E.P ; Marchenko, D.E ; Afanas’ev, V.V ; Shulakov, A.S

Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena, 2010, Vol.181(2), pp.206-210 [Periódico revisado por pares]

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