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Refinado por: Nome da Publicação: Ultramicroscopy remover
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1
Measurement of specimen thickness by phase change determination in TEM
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Measurement of specimen thickness by phase change determination in TEM

Croitoru, M.D. ; Van Dyck, D. ; Liu, Y.Z. ; Zhang, Z.

Ultramicroscopy, 2008-11, Vol.108 (12), p.1616-1622 [Periódico revisado por pares]

Netherlands: Elsevier B.V

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2
An efficient way of including thermal diffuse scattering in simulation of scanning transmission electron microscopic images
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Artigo
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An efficient way of including thermal diffuse scattering in simulation of scanning transmission electron microscopic images

Croitoru, M.D. ; Van Dyck, D. ; Van Aert, S. ; Bals, S. ; Verbeeck, J.

Ultramicroscopy, 2006-08, Vol.106 (10), p.933-940 [Periódico revisado por pares]

Netherlands: Elsevier B.V

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