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Refinado por: Nome da Publicação: Ultramicroscopy

Result Number	Material Type	Record Details and Options
1	Material Type: Artigo	On the benefit of aberration-corrected HAADF-STEM for strain determination and its application to tailoring ferroelectric domain patterns Tang, Y.L. ; Zhu, Y.L. ; Ma, X.L. Ultramicroscopy, 2016-01, Vol.160, p.57-63 [Periódico revisado por pares] Netherlands: Elsevier B.V Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
2	$Mapping 180° polar domains using electron backscatter diffraction and dynamical scattering simulations$ $Mapping 180° polar domains using electron backscatter diffraction and dynamical scattering simulations$ Material Type: Artigo	Mapping 180° polar domains using electron backscatter diffraction and dynamical scattering simulations Burch, Matthew J. ; Fancher, Chris M. ; Patala, Srikanth ; De Graef, Marc ; Dickey, Elizabeth C. Ultramicroscopy, 2017-02, Vol.173, p.47-51 [Periódico revisado por pares] Netherlands: Elsevier B.V Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
3	Material Type: Artigo	Ferroelectric properties and piezoresponse force micoroscopy study of Bi3TaTiO9 thin films Shin, Hyun Wook ; Ahn, Yoonho ; Son, Jong Yeog Ultramicroscopy, 2019-01, Vol.196, p.49-53 [Periódico revisado por pares] Elsevier B.V Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
4	$Mapping 180° polar domains using electron backscatter diffraction and dynamical scattering simulations$ $Mapping 180° polar domains using electron backscatter diffraction and dynamical scattering simulations$ Material Type: Artigo	Mapping 180° polar domains using electron backscatter diffraction and dynamical scattering simulations Burch, Matthew J. ; Fancher, Chris M. ; Patala, Srikanth ; De Graef, Marc ; Dickey, Elizabeth C. Ultramicroscopy, 2016-11, Vol.173 (C) [Periódico revisado por pares] United States: Elsevier Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
5	$A three-dimensional polarization domain retrieval method from electron diffraction data$ $A three-dimensional polarization domain retrieval method from electron diffraction data$ Material Type: Artigo	A three-dimensional polarization domain retrieval method from electron diffraction data Pennington, Robert S. ; Koch, Christoph T. Ultramicroscopy, 2015-08, Vol.155, p.42-48 [Periódico revisado por pares] Netherlands: Elsevier B.V Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
6	Material Type: Artigo	Perspectives on in situ electron microscopy Zheng, Haimei ; Zhu, Yimei Ultramicroscopy, 2017-09, Vol.180 (C), p.188-196 [Periódico revisado por pares] Netherlands: Elsevier B.V Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
7	Material Type: Artigo	AFM characterization of domain structure of ferroelectric TGS crystals on a nanoscale Tolstikhina, A.L ; Belugina, N.V ; Shikin, S.A Ultramicroscopy, 2000-02, Vol.82 (1), p.149-152 [Periódico revisado por pares] Netherlands: Elsevier B.V Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
8	Material Type: Artigo	In situ domain multiplication and migration in the antiferroelectric ceramic PLSnZT De Graef, M. ; Clarke, D.R. ; Speck, J.S. Ultramicroscopy, 1993-11, Vol.52 (2), p.179-185 [Periódico revisado por pares] Amsterdam: Elsevier B.V Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por