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Refinado por: Nome da Publicação: Thin Solid Films remover
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Development of a broadband Mueller matrix ellipsometer as a powerful tool for nanostructure metrology
Development of a broadband Mueller matrix ellipsometer as a powerful tool for nanostructure metrology
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Development of a broadband Mueller matrix ellipsometer as a powerful tool for nanostructure metrology

Liu, Shiyuan ; Chen, Xiuguo ; Zhang, Chuanwei

Thin solid films, 2015-06, Vol.584, p.176-185 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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2
Characterization of vine, Vitis vinifera, leaves by Mueller polarimetric microscopy
Characterization of vine, Vitis vinifera, leaves by Mueller polarimetric microscopy
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Characterization of vine, Vitis vinifera, leaves by Mueller polarimetric microscopy

Bugami, B. Al ; Su, Y. ; Rodríguez, C. ; Lizana, A. ; Campos, J. ; Durfort, M. ; Ossikovski, R. ; Garcia-Caurel, E.

Thin solid films, 2023-01, Vol.764, p.139594, Article 139594 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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3
Work function tuning of tin-doped indium oxide electrodes with solution-processed lithium fluoride
Work function tuning of tin-doped indium oxide electrodes with solution-processed lithium fluoride
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Work function tuning of tin-doped indium oxide electrodes with solution-processed lithium fluoride

Ow-Yang, C.W. ; Jia, J. ; Aytun, T. ; Zamboni, M. ; Turak, A. ; Saritas, K. ; Shigesato, Y.

Thin solid films, 2014-05, Vol.559, p.58-63 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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4
Ellipsometry of monolayers of metallic nanoparticles taking into account depolarization
Ellipsometry of monolayers of metallic nanoparticles taking into account depolarization
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Ellipsometry of monolayers of metallic nanoparticles taking into account depolarization

Bortchagovsky, E.G. ; Mishakova, T.O. ; Hingerl, K.

Thin solid films, 2014-11, Vol.571, p.625-630 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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5
Depolarization correction method for ellipsometric measurements of large grain size zinc-oxide films
Depolarization correction method for ellipsometric measurements of large grain size zinc-oxide films
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Depolarization correction method for ellipsometric measurements of large grain size zinc-oxide films

Pápa, Z. ; Budai, J. ; Hanyecz, I. ; Csontos, J. ; Toth, Z.

Thin solid films, 2014-11, Vol.571, p.562-566 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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6
Accurate characterization of thin films on rough surfaces by spectroscopic ellipsometry
Accurate characterization of thin films on rough surfaces by spectroscopic ellipsometry
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Accurate characterization of thin films on rough surfaces by spectroscopic ellipsometry

Siah, S.C. ; Hoex, B. ; Aberle, A.G.

Thin solid films, 2013-10, Vol.545, p.451-457 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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7
Spectroscopic ellipsometry data analysis: measured versus calculated quantities
Spectroscopic ellipsometry data analysis: measured versus calculated quantities
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Spectroscopic ellipsometry data analysis: measured versus calculated quantities

Jellison, Jr, G.E.

Thin solid films, 1998-02, Vol.313 (1-2), p.33-39 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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8
Nanoscale polarization relaxation of epitaxial BiFeO3 thin film
Nanoscale polarization relaxation of epitaxial BiFeO3 thin film
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Nanoscale polarization relaxation of epitaxial BiFeO3 thin film

Chen, Weigang ; You, Lu ; Chen, Gaofeng ; Chua, Ngeah Theng ; Guan, Ong Hock ; Zou, Xi ; Wang, Junling ; Chen, Lang

Thin solid films, 2010-10, Vol.518 (24), p.e169-e173 [Periódico revisado por pares]

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9
Mechanism analysis of BaTiO3 and polymer QAR composite humidity sensor
Mechanism analysis of BaTiO3 and polymer QAR composite humidity sensor
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Mechanism analysis of BaTiO3 and polymer QAR composite humidity sensor

Wang, Jing ; Song, Gang

Thin solid films, 2007-10, Vol.515 (24), p.8776-8779 [Periódico revisado por pares]

Lausanne: Elsevier Science

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10
Anisotropy-enhanced depolarization on transparent film/substrate system
Anisotropy-enhanced depolarization on transparent film/substrate system
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Anisotropy-enhanced depolarization on transparent film/substrate system

Franta, Daniel ; Nečas, David ; Ohlídal, Ivan

Thin solid films, 2011-02, Vol.519 (9), p.2637-2640 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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