skip to main content
Refinado por: Nome da Publicação: Solid State Communications remover
Result Number Material Type Add to My Shelf Action Record Details and Options
1
Quantum well model and variation of the optical band gap in hydrogenated amorphous silicon carbon alloy films
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Quantum well model and variation of the optical band gap in hydrogenated amorphous silicon carbon alloy films

Basa, D.K

Solid state communications, 2001-06, Vol.118 (10), p.535-539 [Periódico revisado por pares]

Oxford: Elsevier Ltd

Texto completo disponível

2
Memory effect on CdSe nanocrystals embedded in SiO2 matrix
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Memory effect on CdSe nanocrystals embedded in SiO2 matrix

LEVICHEV, S ; BASA, P ; HORVATH, Zs. J ; CHAHBOUN, A ; ROLO, A. G ; BARRADAS, N. P ; ALVES, E ; COMES, M. J. M

Solid state communications, 2008-10, Vol.148 (3-4), p.105-108 [Periódico revisado por pares]

Oxford: Elsevier

Texto completo disponível

3
Valence electronic structure of Fe and Ni in FexNi1-x alloys from relative K X-ray intensity studies
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Valence electronic structure of Fe and Ni in FexNi1-x alloys from relative K X-ray intensity studies

RAJ, S ; PADHI, H. C ; POLASIK, M ; PAWŁOWSKI, F ; BASA, D. K

Solid state communications, 2000-11, Vol.116 (10), p.563-567 [Periódico revisado por pares]

Oxford: Elsevier

Texto completo disponível

4
Charge transfer studies in V3Si, Cr3Si and FeSi
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Charge transfer studies in V3Si, Cr3Si and FeSi

RAJ, S ; PADHI, H. C ; POLASIK, M ; BASA, D. K

Solid state communications, 1999-04, Vol.110 (5), p.275-279 [Periódico revisado por pares]

Oxford: Elsevier

Texto completo disponível

5
Memory effect on CdSe nanocrystals embedded in SiO 2 matrix
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Memory effect on CdSe nanocrystals embedded in SiO 2 matrix

Levichev, S. ; Basa, P. ; Horváth, Zs.J. ; Chahboun, A. ; Rolo, A.G. ; Barradas, N.P. ; Alves, E. ; Gomes, M.J.M.

Solid state communications, 2008, Vol.148 (3), p.105-108 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

Texto completo disponível

6
Valence electronic structure of Fe and Ni in Fe Ni1− alloys from relative K X-ray intensity studies
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Valence electronic structure of Fe and Ni in Fe Ni1− alloys from relative K X-ray intensity studies

Raj, S ; Padhi, H.C ; Polasik, M ; Pawłowski, F ; Basa, D.K

Solid state communications, 2000-11, Vol.116 (10), p.563-567 [Periódico revisado por pares]

Texto completo disponível

7
Valence electronic structure of Fe and Ni in Fe xNi 1− x alloys from relative K X-ray intensity studies
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Valence electronic structure of Fe and Ni in Fe xNi 1− x alloys from relative K X-ray intensity studies

Raj, S ; Padhi, H.C ; Polasik, M ; Pawłowski, F ; Basa, D.K

Solid state communications, 2000, Vol.116 (10), p.563-567 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

Texto completo disponível

8
Charge transfer studies in V 3 Si, Cr 3 Si and FeSi
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Charge transfer studies in V 3 Si, Cr 3 Si and FeSi

Raj, S ; Padhi, H.C ; Polasik, M ; Basa, D.K

Solid state communications, 1999-04, Vol.110 (5), p.275-279 [Periódico revisado por pares]

Texto completo disponível

9
Charge transfer studies in V sub(3)Si, Cr sub(3)Si and FeSi
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Charge transfer studies in V sub(3)Si, Cr sub(3)Si and FeSi

Raj, S ; Padhi, H C ; Polasik, M ; Basa, D K

Solid state communications, 1999-01, Vol.110 (5), p.275-279 [Periódico revisado por pares]

Texto completo disponível

10
Valence electronic structure of Fe and Ni in Fe sub(x)Ni sub(1-x) alloys from relative K X-ray intensity studies
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Valence electronic structure of Fe and Ni in Fe sub(x)Ni sub(1-x) alloys from relative K X-ray intensity studies

Raj, S ; Padhi, H C ; Polasik, M ; Pawlowski, F ; Basa, D K

Solid state communications, 2000-11, Vol.116 (10), p.563-567 [Periódico revisado por pares]

Texto completo disponível

Buscando em bases de dados remotas. Favor aguardar.