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Nonlinear Optics: feature issue introduction
Nonlinear Optics: feature issue introduction
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Nonlinear Optics: feature issue introduction

Denz, Cornelia ; Hagan, David J ; Boyd, Robert ; Conti, Claudio ; Mecozzi, Antonio ; Salandrino, Alessandro

Optics express, 2020-02, Vol.28 (4), p.5883-5885 [Periódico revisado por pares]

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Transient mid-IR nonlinear refraction in air
Transient mid-IR nonlinear refraction in air
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Transient mid-IR nonlinear refraction in air

Tofighi, Salimeh ; Munera, Natalia ; Reichert, Matthew ; Hagan, David J ; Van Stryland, Eric W

Optics express, 2021-03, Vol.29 (7), p.10863-10878 [Periódico revisado por pares]

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Dispersion of nondegenerate nonlinear refraction in semiconductors
Dispersion of nondegenerate nonlinear refraction in semiconductors
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Dispersion of nondegenerate nonlinear refraction in semiconductors

Zhao, Peng ; Reichert, Matthew ; Hagan, David J ; Van Stryland, Eric W

Optics express, 2016-10, Vol.24 (22), p.24907-24920 [Periódico revisado por pares]

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Introduction: Nonlinear Optics (NLO) 2017 feature issue
Introduction: Nonlinear Optics (NLO) 2017 feature issue
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Introduction: Nonlinear Optics (NLO) 2017 feature issue

Hagan, David J ; Denz, Cornelia ; Suchowski, Haim ; Biaggio, Ivan ; Sheik-Bahae, Mansoor

Optics express, 2018-02, Vol.26 (3), p.3577-3578 [Periódico revisado por pares]

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Extremely nondegenerate two-photon absorption in direct-gap semiconductors [Invited]
Extremely nondegenerate two-photon absorption in direct-gap semiconductors [Invited]
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Extremely nondegenerate two-photon absorption in direct-gap semiconductors [Invited]

Cirloganu, Claudiu M ; Padilha, Lazaro A ; Fishman, Dmitry A ; Webster, Scott ; Hagan, David J ; Van Stryland, Eric W

Optics express, 2011-11, Vol.19 (23), p.22951-22960 [Periódico revisado por pares]

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Three-dimensional IR imaging with uncooled GaN photodiodes using nondegenerate two-photon absorption
Three-dimensional IR imaging with uncooled GaN photodiodes using nondegenerate two-photon absorption
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Three-dimensional IR imaging with uncooled GaN photodiodes using nondegenerate two-photon absorption

Pattanaik, Himansu S ; Reichert, Matthew ; Hagan, David J ; Van Stryland, Eric W

Optics express, 2016-01, Vol.24 (2), p.1196-1205 [Periódico revisado por pares]

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Beam deflection measurement of bound-electronic and rotational nonlinear refraction in molecular gases
Beam deflection measurement of bound-electronic and rotational nonlinear refraction in molecular gases
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Beam deflection measurement of bound-electronic and rotational nonlinear refraction in molecular gases

Reichert, Matthew ; Zhao, Peng ; Reed, Jennifer M ; Ensley, Trenton R ; Hagan, David J ; Van Stryland, Eric W

Optics express, 2015-08, Vol.23 (17), p.22224-22237 [Periódico revisado por pares]

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Numerical modeling of thermal refraction in liquids in the transient regime
Numerical modeling of thermal refraction in liquids in the transient regime
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Numerical modeling of thermal refraction in liquids in the transient regime

Kovsh, Dmitriy I. ; Hagan, David J. ; Stryland, Eric W. Van

Optics express, 1999-04, Vol.4 (8), p.315 [Periódico revisado por pares]

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Numerical investigation of enhanced femtosecond supercontinuum via a weak seed in noble gases
Numerical investigation of enhanced femtosecond supercontinuum via a weak seed in noble gases
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Numerical investigation of enhanced femtosecond supercontinuum via a weak seed in noble gases

Shanor, C ; Ensley, T ; Hagan, D J ; Van Stryland, E W ; Wright, E M ; Kolesik, M

Optics express, 2016-06, Vol.24 (13), p.15110-15119 [Periódico revisado por pares]

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10
Beam deflection measurement of bound-electronic and rotational nonlinear refraction in molecular gases: erratum
Beam deflection measurement of bound-electronic and rotational nonlinear refraction in molecular gases: erratum
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Beam deflection measurement of bound-electronic and rotational nonlinear refraction in molecular gases: erratum

Reichert, Matthew ; Zhao, Peng ; Reed, Jennifer M ; Ensley, Trenton R ; Hagan, David J ; Van Stryland, Eric W

Optics express, 2016-08, Vol.24 (17), p.19122-19122 [Periódico revisado por pares]

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