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A gene recombination method for machine tools design based on complex network

Zhao, Liping ; Diao, Guangzhou ; Yan, Peng ; Yao, Yiyong ; Chen, Hongren

The International Journal of Advanced Manufacturing Technology, 2016, Vol.83(5), pp.729-741 [Periódico revisado por pares]

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Lot cycle time prediction in a ramping-up semiconductor manufacturing factory with a SOM–FBPN-ensemble approach with multiple buckets and partial normalization

Chen, Toly ; Wang, Yi-Chi ; Tsai, Horng-Ren

The International Journal of Advanced Manufacturing Technology, 2009, Vol.42(11), pp.1206-1216 [Periódico revisado por pares]

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A fuzzy-neural approach for estimating the monthly output of a semiconductor manufacturing factory

Chen, Toly

The International Journal of Advanced Manufacturing Technology, 2008, Vol.39(5), pp.589-598 [Periódico revisado por pares]

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A SOM-FBPN-ensemble approach with error feedback to adjust classification for wafer-lot completion time prediction

Chen, Toly

The International Journal of Advanced Manufacturing Technology, 2008, Vol.37(7), pp.782-792 [Periódico revisado por pares]

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A hybrid neural network and selective allowance approach for internal due date assignment in a wafer fabrication plant

Chen, Toly ; Jeang, Angus ; Wang, Yi-Chi

The International Journal of Advanced Manufacturing Technology, 2008, Vol.36(5), pp.570-581 [Periódico revisado por pares]

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A hybrid look-ahead SOM-FBPN and FIR system for wafer-lot-output time prediction and achievability evaluation

Chen, Toly

The International Journal of Advanced Manufacturing Technology, 2007, Vol.35(5), pp.575-586 [Periódico revisado por pares]

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