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Refinado por: Nome da Publicação: Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement remover
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An Improved Sine Wave Histogram Test Method for ADC Characterization
An Improved Sine Wave Histogram Test Method for ADC Characterization
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An Improved Sine Wave Histogram Test Method for ADC Characterization

Palfi, Vilmos

IEEE transactions on instrumentation and measurement, 2019-10, Vol.68 (10), p.3446-3455 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Acceleration of the ADC Test With Sine-Wave Fit
Acceleration of the ADC Test With Sine-Wave Fit
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Acceleration of the ADC Test With Sine-Wave Fit

Palfi, V. ; Kollar, I.

IEEE transactions on instrumentation and measurement, 2013-05, Vol.62 (5), p.880-888 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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