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1
Fabrication of Small Magnets Using Mono- and Seven-Core (Ba,A)Fe2As2 (A: K, Na) HIP Round Wires
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Fabrication of Small Magnets Using Mono- and Seven-Core (Ba,A)Fe2As2 (A: K, Na) HIP Round Wires

Tamegai, T. ; Pyon, S. ; Ito, T. ; Kajitani, H. ; Koizumi, N. ; Awaji, S. ; Kito, H. ; Ishida, S. ; Yoshida, Y.

IEEE transactions on applied superconductivity, 2023-08, Vol.33 (5), p.1-4 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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2
Experimental Evaluation of the Effect on AC Loss of a Polygonal Arrangement in YBCO Assembled Conductors
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Experimental Evaluation of the Effect on AC Loss of a Polygonal Arrangement in YBCO Assembled Conductors

Ogawa, J ; Fukui, S ; Oka, T ; Sato, T ; Ito, T ; Sugisawa, J ; Tamura, A

IEEE transactions on applied superconductivity, 2011-06, Vol.21 (3), p.3285-3288 [Periódico revisado por pares]

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3
Development of MVA class HTS SMES system for bridging instantaneous voltage dips
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Development of MVA class HTS SMES system for bridging instantaneous voltage dips

Shikimachi, K. ; Moriguchi, H. ; Hirano, N. ; Nagaya, S. ; Ito, T. ; Inagaki, J. ; Hanai, S. ; Takahashi, M. ; Kurusu, T.

IEEE transactions on applied superconductivity, 2005-06, Vol.15 (2), p.1931-1934 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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4
Total AC Loss in Twisted Multifilamentary Coated Conductors Carrying AC Transport Current in AC Transverse Magnetic Field
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Total AC Loss in Twisted Multifilamentary Coated Conductors Carrying AC Transport Current in AC Transverse Magnetic Field

Amemiya, N. ; Kimura, F. ; Ito, T.

IEEE transactions on applied superconductivity, 2007-06, Vol.17 (2), p.3183-3186 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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5
Fabrication of Small Magnets Using Mono- and Seven-Core (Ba, A )Fe 2 As 2 ( A : K, Na) HIP Round Wires
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Fabrication of Small Magnets Using Mono- and Seven-Core (Ba, A )Fe 2 As 2 ( A : K, Na) HIP Round Wires

Tamegai, T. ; Pyon, S. ; Ito, T. ; Kajitani, H. ; Koizumi, N. ; Awaji, S. ; Kito, H. ; Ishida, S. ; Yoshida, Y.

IEEE transactions on applied superconductivity, 2023-08, Vol.33 (5), p.1-4 [Periódico revisado por pares]

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6
Frequency multiply circuit for superconducting A/D converter
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Frequency multiply circuit for superconducting A/D converter

Yoshida, A. ; Hirano, S. ; Suzuki, H. ; Hasuo, S. ; Tanabe, K. ; Ito, T. ; Himi, T. ; Takai, H.

IEEE transactions on applied superconductivity, 2005-06, Vol.15 (2), p.431-434 [Periódico revisado por pares]

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7
Degradation and reversibility of critical current due to transverse compressive stress in Ta-reinforced Nb/sub 3/Sn superconducting strand
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Degradation and reversibility of critical current due to transverse compressive stress in Ta-reinforced Nb/sub 3/Sn superconducting strand

Takao, T. ; Ito, T. ; Umekawa, K. ; Fukasawa, Y. ; Tanaka, H. ; Umeda, M.

IEEE transactions on applied superconductivity, 2005-06, Vol.15 (2), p.3446-3449 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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8
Influence of compressive length of normal stress on degradation in Bi-2223 tapes
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Influence of compressive length of normal stress on degradation in Bi-2223 tapes

Takao, T. ; Ito, T. ; Umekawa, K. ; Fukasawa, Y. ; Tanaka, H. ; Umeda, M.

IEEE transactions on applied superconductivity, 2005-06, Vol.15 (2), p.2488-2491 [Periódico revisado por pares]

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9
Preparation of ramp-edge interface modified junctions for HTS SFQ circuits
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Preparation of ramp-edge interface modified junctions for HTS SFQ circuits

Horibe, M. ; Ito, T. ; Inagaki, Y. ; Matsuda, G. ; Fujimaki, A. ; Hayakawa, H.

IEEE transactions on applied superconductivity, 2001-03, Vol.11 (1), p.159-162 [Periódico revisado por pares]

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10
Influence of transversal compressive strain on degradation of Bi2223 tapes
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Influence of transversal compressive strain on degradation of Bi2223 tapes

Takao, T. ; Ito, T. ; Fukasawa, Y. ; Tanaka, H. ; Umeda, M. ; Umekawa, K.

IEEE transactions on applied superconductivity, 2004-06, Vol.14 (2), p.1070-1073 [Periódico revisado por pares]

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