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Excess leakage-current noise in junction field-effect transistors
Excess leakage-current noise in junction field-effect transistors
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Excess leakage-current noise in junction field-effect transistors

Hawkins, R.J. ; Bloodworth, G.G.

Electronics letters, 1970-01, Vol.6 (13), p.401 [Periódico revisado por pares]

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2
Measurements of statistical burst-noise characteristics
Measurements of statistical burst-noise characteristics
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Measurements of statistical burst-noise characteristics

Mulet, J. ; Luque, A. ; Rodriguez, T.

Electronics letters, 1970-01, Vol.6 (13), p.394 [Periódico revisado por pares]

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3
Test of McWhorter's model of low-frequency noise in Si m.o.s.t.s
Test of McWhorter's model of low-frequency noise in Si m.o.s.t.s
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Test of McWhorter's model of low-frequency noise in Si m.o.s.t.s

Berz, F. ; Prior, C.G.

Electronics letters, 1970-01, Vol.6 (19), p.595 [Periódico revisado por pares]

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4
Noise measurements of silicon planar microwave transistors in the frequency range 4–8 GHz
Noise measurements of silicon planar microwave transistors in the frequency range 4–8 GHz
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Noise measurements of silicon planar microwave transistors in the frequency range 4–8 GHz

Kotyczka, W. ; Strutt, M.J.O.

Electronics letters, 1970-01, Vol.6 (15), p.478 [Periódico revisado por pares]

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5
Compensation of injection-laser excess noise by means of an external modulator
Compensation of injection-laser excess noise by means of an external modulator
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Compensation of injection-laser excess noise by means of an external modulator

Guekos, G. ; Strutt, M.J.O.

Electronics letters, 1970-01, Vol.6 (8), p.250 [Periódico revisado por pares]

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6
Leakage currents, surface current and 1/f noise in planar bipolar transistors
Leakage currents, surface current and 1/f noise in planar bipolar transistors
Material Type:
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Leakage currents, surface current and 1/f noise in planar bipolar transistors

Knott, K.F.

Electronics letters, 1970-01, Vol.6 (25), p.825 [Periódico revisado por pares]

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7
Current fluctuations caused by frequency variations in Gunn diodes
Current fluctuations caused by frequency variations in Gunn diodes
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Current fluctuations caused by frequency variations in Gunn diodes

Hobson, G.S.

Electronics letters, 1970-01, Vol.6 (5), p.118 [Periódico revisado por pares]

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8
A.M. noise of IMPATT-diode oscillators
A.M. noise of IMPATT-diode oscillators
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

A.M. noise of IMPATT-diode oscillators

Ulrich, G.

Electronics letters, 1970-01, Vol.6 (8), p.247 [Periódico revisado por pares]

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9
Thermal noise in double-injection space-charge-limited solid-state diodes
Thermal noise in double-injection space-charge-limited solid-state diodes
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Thermal noise in double-injection space-charge-limited solid-state diodes

van der Ziel, A.

Electronics letters, 1970-01, Vol.6 (2), p.45 [Periódico revisado por pares]

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10
Aerial noise-temperature variations due to atmospheric changes at frequencies of 3.95, 11.75, and 17 GHz
Aerial noise-temperature variations due to atmospheric changes at frequencies of 3.95, 11.75, and 17 GHz
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Aerial noise-temperature variations due to atmospheric changes at frequencies of 3.95, 11.75, and 17 GHz

Jarvis, E.G.

Electronics letters, 1970-01, Vol.6 (8), p.254 [Periódico revisado por pares]

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