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Defect-Oriented Test: Effectiveness in High Volume Manufacturing
Defect-Oriented Test: Effectiveness in High Volume Manufacturing
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Defect-Oriented Test: Effectiveness in High Volume Manufacturing

Hapke, Friedrich ; Howell, Will ; Maxwell, Peter ; Brazil, Edward ; Venkataraman, Srikanth ; Dutta, Rudrajit ; Glowatz, Andreas ; Fast, Anja ; Rajski, Janusz

IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2021-03, Vol.40 (3), p.584-597 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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2
Analog Defect Injection and Fault Simulation Techniques: A Systematic Literature Review
Analog Defect Injection and Fault Simulation Techniques: A Systematic Literature Review
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Analog Defect Injection and Fault Simulation Techniques: A Systematic Literature Review

Azam, Sadia ; Dall'Ora, Nicola ; Fraccaroli, Enrico ; Gillon, Renaud ; Fummi, Franco

IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2024-01, Vol.43 (1), p.1-1 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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3
An Automatic Circuit Design Framework for Level Shifter Circuits
An Automatic Circuit Design Framework for Level Shifter Circuits
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An Automatic Circuit Design Framework for Level Shifter Circuits

Hong, Jiwoo ; Kim, Sunghoon ; Jeon, Dongsuk

IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2022-12, Vol.41 (12), p.5169-5181 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Cell-Aware Test
Cell-Aware Test
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Cell-Aware Test

Hapke, Friedrich ; Redemund, Wilfried ; Glowatz, Andreas ; Rajski, Janusz ; Reese, Michael ; Hustava, Marek ; Keim, Martin ; Schloeffel, Juergen ; Fast, Anja

IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2014-09, Vol.33 (9), p.1396-1409 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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5
A Study of the Electroforming Process in 1T1R Memory Arrays
A Study of the Electroforming Process in 1T1R Memory Arrays
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A Study of the Electroforming Process in 1T1R Memory Arrays

Son, Seokki ; Torre, Camilla La ; Kindsmuller, Andreas ; Rana, Vikas ; Menzel, Stephan

IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2023-02, Vol.42 (2), p.558-568 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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6
Leakage Models for High-Level Power Estimation
Leakage Models for High-Level Power Estimation
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Leakage Models for High-Level Power Estimation

Helms, Domenik ; Eilers, Reef ; Metzdorf, Malte ; Nebel, Wolfgang

IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2018-08, Vol.37 (8), p.1627-1639 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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