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Record indoor magnetic field of 1200 T generated by electromagnetic flux-compression

Nakamura, D. ; Ikeda, A. ; Sawabe, H. ; Matsuda, Y. H. ; Takeyama, S.

Review of Scientific Instruments, September 2018, Vol.89(9) [Periódico revisado por pares]

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2
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Artigo
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Cascade Auger decays following Si KL 23 L 23 Auger transitions in SiF 4

Suzuki, I. H. ; Kono, Y. ; Ikeda, A. ; Oi, M. ; Ouchi, T. ; Ueda, K. ; Tamenori, Y. ; Takahashi, O. ; Nagaoka, S.

The Journal of Chemical Physics, 14 January 2013, Vol.138(2) [Periódico revisado por pares]

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Artigo
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Projection of Si 1 s photoexcited orbitals into resonant Auger electron spectra in KLL decays of Si(CH 3 ) 4 and SiF 4

Suzuki, I. H. ; Kono, Y. ; Ikeda, A. ; Ouchi, T. ; Ueda, K. ; Takahashi, O. ; Higuchi, I. ; Tamenori, Y. ; Nagaoka, S.

The Journal of Chemical Physics, 28 February 2011, Vol.134(8) [Periódico revisado por pares]

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Artigo
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Recording studies of perpendicular media leading to 230 Gb ∕ in 2

Xiao, M. ; Do, H. ; Weresin, W. ; Dai, Q. ; Ikeda, Y. ; Takano, K. ; Moser, A. ; Lengsfield, B. ; Berger, A. ; Schabes, M. ; Nayak, V. ; Supper, N. ; Rosen, H. ; Marchon, B. ; Minardi, M. ; Heinz, B.

50th Annual Conference on Magnetism and Magnetic Materials, San Jose, California (USA) (30 October-3 November 2005): Journal of Applied Physics, 15 April 2006, Vol.99(8) [Periódico revisado por pares]

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Artigo
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Quantification of metal oxide semiconductor field effect transistor device reliability with low- V t lanthanum-incorporated high permittivity dielectrics

O’sullivan, B. J. ; Aoulaiche, M. ; Cho, M. J. ; Kauerauf, T. ; Degraeve, R. ; Okawa, H. ; Schram, T. ; Hoffmann, T. Y. ; Groeseneken, G. ; Biesemans, S. ; Nakabayashi, T. ; Ikeda, A. ; Niwa, M.

Journal of Applied Physics, 01 December 2009, Vol.106(11) [Periódico revisado por pares]

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Reliability study of La 2 O 3 capped HfSiON high-permittivity n -type metal-oxide-semiconductor field-effect transistor devices with tantalum-rich electrodes

O’sullivan, B. J. ; Mitsuhashi, R. ; Pourtois, G. ; Aoulaiche, M. ; Houssa, M. ; Van Der Heyden, N. ; Schram, T. ; Harada, Y. ; Groeseneken, G. ; Absil, P. ; Biesemans, S. ; Nakabayashi, T. ; Ikeda, A. ; Niwa, M.

Journal of Applied Physics, 15 August 2008, Vol.104(4) [Periódico revisado por pares]

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Determination of intrinsic switching field distributions in perpendicular recording media (invited)

Berger, A. ; Lengsfield, B. ; Ikeda, Y.

Journal of Applied Physics, 15 April 2006, Vol.99(8) [Periódico revisado por pares]

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Coupled granular/continuous perpendicular recording media with soft magnetic underlayer

Sonobe, Y. ; Muraoka, H. ; Miura, K. ; Nakamura, Y. ; Takano, K. ; Do, H. ; Moser, A. ; Yen, B. K. ; Ikeda, Y. ; Supper, N.

Journal of Applied Physics, 15 May 2002, Vol.91(10), pp.8055-8057 [Periódico revisado por pares]

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Electric-field effects on magnetic anisotropy and damping constant in Ta/CoFeB/MgO investigated by ferromagnetic resonance

Okada, A. ; Kanai, S. ; Yamanouchi, M. ; Ikeda, S. ; Matsukura, F. ; Ohno, H.

Applied Physics Letters, 04 August 2014, Vol.105(5) [Periódico revisado por pares]

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Instability phenomenon of high-frequency vacuum arc discharge associated with anode activity

Inada, Y. ; Kamiya, T. ; Matsuoka, S. ; Kumada, A. ; Ikeda, H. ; Hidaka, K.

Journal of Applied Physics, 14 April 2017, Vol.121(14) [Periódico revisado por pares]

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  5. Kaneko, O.

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